物理化学学报 >> 1987, Vol. 3 >> Issue (03): 292-297.doi: 10.3866/PKU.WHXB19870313
程虎民
Cheng Humin
摘要: 本文研究了用不同量的I~-(1×10~(-3)-4×10~(-2)mol I~-/mol AgBr)进行表面掺杂的正八面体AgBr乳剂的介电吸收频谱, 并用强X射线光源相应作了多晶X射线物相分析。当I~-的加入量小于1×10~(-2)mol/mol AgBr时, 介电吸收峰随加入I~-量的增加而逐渐向高频方向位移。吸收峰弥散, 分布很宽。当I~-的加入量大于1×10~(-2)mol/mol AgBr时, 样品的介电吸收峰不再明显向高频方向移动, 峰形亦相对比较尖锐。已有证据表明, 在掺杂I~-以后, 在AgBr微晶的表明层内除生成Ag(Br, I)混晶外, 还附生有一薄层β-AgI。分散相颗粒表面层大约2.0 nm范围内的组成与结构对非均匀电介质中的界面极化效应有重要影响, 此外, 对界面极化效应应用的可能性作了初步探讨。