摘要: 本文指出, 由于热形成氧化铁电极光电流响应的瞬态性质, 所以正用锁定放大器测量出的数值大大超过其代数平均值。阳极形成铁钝化膜的光电响应与热形成氧化铁的相类似, 但有一定差别。目前的实验水平尚不足以监测钝化膜形成过程中的结构性质。但实验证明膜基本形成后, 在理想情况下, 光电流与膜厚在一定范围内成正比。在膜基本形成前, 则光电流之值较大, 偏离正比关系。
蔡生民;张久俊;杨文治. 氧化铁电极的半导体性能和光电化学——Ⅳ、阳极形成及热形成氧化铁电极的光电化学实验研究[J]. 物理化学学报, 1988, 4(05): 473-477.
Cai Shengmin*; Zhang Jiujun; Yang Wenzhi. SEMICONDUCTIVE PROPERTIES AND PHOTOELECTROCHEMISTRY OF IRON OXIDE ELECTRODES Ⅳ. Experimental photoelectrochemistry Studies of Anodic-formed and Thermal-formed Iron Oxide Electrodes[J]. Acta Phys. -Chim. Sin., 1988, 4(05): 473-477.