摘要: 在n-GaAs电解液界面,用聚焦He-Ne激光照射, 使n-GaAs表面发生微区光电化学腐蚀, 用计算机控制步进马达, 使试样在X-Y二维方向扫描移动, 能在晶片上得到刻蚀点直径2 μm的刻蚀图案. 研究了激光相对光强, KOH、H_2SO_4、KCl等刻蚀剡的浓度, 光腐蚀的时间, 电极电位等因素对腐蚀点的直径和深度的影响, 通过实验数据找出腐蚀过程的规律, 并用光电化学原理进行解释.
王卫江;王江涛;金承和;陆寿蕴. n型砷化镓微区光电化学腐蚀过程[J]. 物理化学学报, 1993, 9(03): 386-391.
Wang Wei-Jiang; Wang Jiang-Tao; Jin Cheng-He; Lu Shou-Yun. Photoelectrochemical Microetching of n-GaAs[J]. Acta Phys. -Chim. Sin., 1993, 9(03): 386-391.