摘要:
用微扰密度矩阵和瞬态线性极化率理论,模拟了四特丁基酞菁(BuPc)和四苯基卟啉(TPP)分子的飞秒荧光亏蚀谱.初步定量地确定了它们的Huang-Rhys因子.振动弛豫和电子激发态溶剂化的速率常数.飞秒荧光亏蚀谱在零延时附近的尖峰.归结为S2→S1的内转换所造成的后果.通过对光谱的模拟,比较可靠地确定了内转换速率常数.
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