摘要: 采用普通电子陶瓷工艺制备两种高频介质系统ZnO-B2O3-SiO2三元系和BaO-PbO-Nd2O3-Bi2O3-TiO2五元系,通过XRD分析确定各系统的主晶相, 运用衍射峰强度计算法准确测定出各组分的体积百分含量,并代入Lichnetecker对数混合定则,计算出系统的介电性能,获得了分析介质系统介电性能与物相含量之间定量关系的新方法.
李玲霞;吴霞宛;王洪儒;张志萍;余昊明. 高频介质系统介电性能与相组成的定量关系分析[J]. 物理化学学报, 2004, 20(04): 396-399.
Li Ling-Xia;Wu Xia-Wan;Wang Hong-Ru;Zhang Zhi-Ping;Yu Hao-Ming. Analysis on Quantitative Relationship between Dielectric Properties and Phase Structure of High Frequency Dielectric System[J]. Acta Phys. -Chim. Sin., 2004, 20(04): 396-399.