物理化学学报 >> 2013, Vol. 29 >> Issue (07): 1370-1384.doi: 10.3866/PKU.WHXB201304191
袁秉凯1,2, 陈鹏程1, 仉君1, 程志海1, 王琛1, 裘晓辉1
收稿日期:
2013-01-14
修回日期:
2013-04-17
发布日期:
2013-06-14
通讯作者:
王琛, 裘晓辉
E-mail:wangch@nanoctr.cn;xhqiu@nanoctr.cn
基金资助:
国家重大科学研究计划(2012CB933001)和国家自然科学基金(21173058)资助
YUAN Bing-Kai1,2, CHEN Peng-Cheng1, ZHANG Jun1, CHENG Zhi-Hai1, WANG Chen1, QIU Xiao-Hui1
Received:
2013-01-14
Revised:
2013-04-17
Published:
2013-06-14
Contact:
WANG Chen, QIU Xiao-Hui
E-mail:wangch@nanoctr.cn;xhqiu@nanoctr.cn
Supported by:
The project was supported by the National Key Basic Research Program of China (2012CB933001) and National Natural Science Foundation of China (21173058).
摘要:
非接触原子力显微技术(NC-AFM)近年来发展迅速. NC-AFM对单个分子的成像和谱学实现了原子分辨和单个化学键分辨. NC-AFM自身功能的拓展及其与不同探针技术的联用将为材料、物理、化学和生命科学有关的研究提供崭新的思路. 本文首先介绍NC-AFM和qPlus 传感器的基本原理, 然后讨论原子尺度的相互作用力和短程力的精确测量, 总结近年来NC-AFM在原子尺度的化学结构成像、化学识别、电子结构性质分析以及原子操纵技术中的研究进展, 并讨论了开尔文探针力显微技术(KPFM)在局域接触势差(LCPD)测量方面的应用. 最后展望了NC-AFM面临的挑战和发展机遇.
MSC2000:
袁秉凯, 陈鹏程, 仉君, 程志海, 王琛, 裘晓辉. 原子分辨显微分析技术研究进展[J]. 物理化学学报, 2013, 29(07): 1370-1384.
YUAN Bing-Kai, CHEN Peng-Cheng, ZHANG Jun, CHENG Zhi-Hai, WANG Chen, QIU Xiao-Hui. Research Progress in Atomic Resolution Microscopy[J]. Acta Phys. -Chim. Sin., 2013, 29(07): 1370-1384.
(1) Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, C.;Weibel, E. Phys. Rev. Lett.1982, 49, 57. doi: 10.1103/PhysRevLett.49.57 (2) Teague, E. C. Bull. Am. Phys. Soc. 1978, 23, 290. (3) Coombs, J. H.; Pethica, J. B. IBM J. Res. Dev. 1986, 30, 455.doi: 10.1147/rd.305.0455 (4) Binnig, G.; Quate, C. F.; Gerber, C. Phys. Rev. Lett. 1986, 56,930. doi: 10.1103/PhysRevLett.56.930 (5) García, R.; Pérez, R. Surf. Sci. Rep. 2002, 47, 197. doi: 10.1016/S0167-5729(02)00077-8 (6) Martin, Y.;Williams, C. C.;Wickramasinghe, H. K. J. Appl.Phys. 1987, 61, 4723. doi: 10.1063/1.338807 (7) Zhong, Q.; Inniss, D.; Kjoller, K.; Elings, V. B. Surf. Sci. Lett.1993, 290, L688. (8) Albrecht, T. R.; Grütter, P.; Horne, D.; Rugar, D. J. Appl. Phys.1991, 69, 668. doi: 10.1063/1.347347 (9) Gross, L. Nat. Chem. 2011, 3, 273. doi: 10.1038/nchem.1008 (10) Gross, L.; Mohn, F.; Moll, N.; Schuler, B.; Criado, A.; Guitián,E.; Peña, D.; Gourdon, A.; Meyer, G. Science 2012, 337, 1326.doi: 10.1126/science.1225621 (11) Baykara, M. Z.; Schwendemann, T. C.; Altman, E. I.; Schwarz,U. D. Adv. Mater. 2010, 22, 2838. doi: 10.1002/adma.200903909 (12) Mohn, F.; Gross, L.; Moll, N.; Meyer, G. Nat. Nanotechnol.2012, 7, 227. doi: 10.1038/nnano.2012.20 (13) Melitz,W.; Shen, J.; Kummel, A. C.; Lee, S. Surf. Sci. Rep.2011, 66, 1. doi: 10.1016/j.surfrep.2010.10.001 (14) Barth, C.; Foster, A. S.; Henry, C. R.; Shluger, A. L. Adv. Mater.2011, 23, 477. doi: 10.1002/adma.v23.4 (15) Giessibl, F. J. Rev. Mod. Phys. 2003, 75, 949. doi: 10.1103/RevModPhys.75.949 (16) Pérez, R.; Štich, I.; Payne, M. C.; Terakura, K. Phys. Rev. B1998, 58, 10835. doi: 10.1103/PhysRevB.58.10835 (17) Livshits, A. I.; Shluger, A. L.; Rohl, A. L.; Foster, A. S. Phys.Rev. B 1999, 59, 2436. doi: 10.1103/PhysRevB.59.2436 (18) Moll, N.; Gross, L.; Mohn, F.; Curioni, A.; Meyer, G. N. J.Phys. 2010, 12, 125020. doi: 10.1088/1367-2630/12/12/125020 (19) Moll, N.; Gross, L.; Mohn, F.; Curioni, A.; Meyer, G. N. J.Phys. 2012, 14, 083023. doi: 10.1088/1367-2630/14/8/083023 (20) Custance, Ó.; Oyabu, N.; Sugimoto, Y. Force Spectroscopy onSemiconductor Surfaces. In Noncontact Atomic ForceMicroscopy; Morita, S., Giessibl, F. J.,Wiesendanger, R. Eds.;Springer: Berlin, 2009; Vol. 2, pp 31-68. (21) Giessibl, F. J. Materials Today 2005, 8, 32. (22) Torbrugge, S.; Schaff, O.; Rychen, J. J. Vac. Sci. Technol. B2010, 28, C4E12. (23) An, T.; Nishio, T.; Eguchi, T.; Ono, M.; Nomura, A.; Akiyama,K.; Hasegawa, Y. Rev. Sci. Instrum. 2008, 79, 033703.doi: 10.1063/1.2830937 (24) Giessibl, F. J. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 3956. doi: 10.1063/1.122948 (25) Heyde, M.; Kulawik, M.; Rust, H. P.; Freund, H. J. Rev. Sci.Instrum. 2004, 75, 2446. doi: 10.1063/1.1765753 (26) Giessibl, F. J.; Pielmeier, F.; Eguchi, T.; An, T.; Hasegawa, Y.Phys. Rev. B 2011, 84, 125409. (27) Giessibl, F. J. Principles and Applications of the qPlus Sensor.In Noncontact Atomic Force Microscopy; Morita, S., Giessibl,F. J.,Wiesendanger, R. Eds.; Springer: Berlin, 2009; Vol. 2, pp121-142. (28) Sader, J. E.; Jarvis, S. P. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 1801.doi: 10.1063/1.1667267 (29) Hamaker, H. C. Physica 1937, 4, 1058. doi: 10.1016/S0031-8914(37)80203-7 (30) Israelachvili, J. Intermolecular and Surface Forces, 3rd ed.;Academic Press: San Diego, 2011. (31) Argento, C.; French, R. H. J. Appl. Phys. 1996, 80, 6081.doi: 10.1063/1.363680 (32) Ruschmeier, K.; Schirmeisen, A.; Hoffmann, R. Phys. Rev. Lett.2008, 101, 156102. doi: 10.1103/PhysRevLett.101.156102 (33) Such, B.; Glatzel, T.; Kawai, S.; Koch, S.; Meyer, E. J. Vac. Sci.Technol. B 2010, 28, C4B1. (34) Kawai, S.; Glatzel, T.; Koch, S.; Baratoff, A.; Meyer, E. Phys.Rev. B 2011, 83, 035421. doi: 10.1103/PhysRevB.83.035421 (35) Sun, Z. X.; Boneschanscher, M. P.; Swart, I.; Vanmaekelbergh,D.; Liljeroth, P. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 046104. doi: 10.1103/PhysRevLett.106.046104 (36) Fremy, S.; Kawai, S.; Pawlak, R.; Glatzel, T.; Baratoff, A.;Meyer, E. Nanotechnology 2012, 23, 055401. doi: 10.1088/0957-4484/23/5/055401 (37) Albers, B. J.; Schwendemann, T. C.; Baykara, M. Z.; Pilet, N.;Liebmann, M.; Altman, E. I.; Schwarz, U. D. Nanotechnology2009, 20, 264002. doi: 10.1088/0957-4484/20/26/264002 (38) Albers, B. J.; Schwendemann, T. C.; Baykara, M. Z.; Pilet, N.;Liebmann, M.; Altman, E. I.; Schwarz, U. D. Nat. Nanotechnol.2009, 4, 307. doi: 10.1038/nnano.2009.57 (39) Weiss, C.;Wagner, C.; Temirov, R.; Tautz, F. S. J. Am. Chem.Soc. 2010, 132, 11864. doi: 10.1021/ja104332t (40) Temirov, R.; Soubatch, S.; Neucheva, O.; Lassise, A. C.; Tautz,F. S. N. J. Phys. 2008, 10, 053012. doi: 10.1088/1367-2630/10/5/053012 (41) Weiss, C.;Wagner, C.; Kleimann, C.; Rohlfing, M.; Tautz, F. S.;Temirov, R. Phys. Rev. Lett. 2010, 105, 086103. doi: 10.1103/PhysRevLett.105.086103 (42) Kichin, G.;Weiss, C.;Wagner, C.; Tautz, F. S.; Temirov, R.J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 16847. doi: 10.1021/ja204624g (43) Giessibl, F. J. Science 1995, 267, 68. doi: 10.1126/science.267.5194.68 (44) Noncontact Atomic Force Microscopy; Morita, S.,Wiesendanger, R., Meyer, E. Eds.; Springer: Berlin, 2002; Vol. 1. (45) Morita, S. Introduction. In Noncontact Atomic ForceMicroscopy; Morita, S., Giessibl, F. J.,Wiesendanger, R. Eds.;Springer: Berlin, 2009; Vol. 2; pp 1-13. (46) Giessibl, F. J.; Hembacher, S.; Bielefeldt, H.; Mannhart, J.Science 2000, 289, 422. doi: 10.1126/science.289.5478.422 (47) Hembacher, S.; Giessibl, F. J.; Mannhart, J. Science 2004, 305,380. doi: 10.1126/science.1099730 (48) Gross, L.; Mohn, F.; Moll, N.; Liljeroth, P.; Meyer, G. Science2009, 325, 1110. doi: 10.1126/science.1176210 (49) Pawlak, R.; Kawai, S.; Fremy, S.; Glatzel, T.; Meyer, E. ACSNano 2011, 5, 6349. doi: 10.1021/nn201462g (50) Pawlak, R.; Kawai, S.; Fremy, S.; Glatzel, T.; Meyer, E. J. Phys.Condes. Matter 2012, 24, 084005. doi: 10.1088/0953-8984/24/8/084005 (51) Boneschanscher, M. P.; van der Lit, J.; Sun, Z.; Swart, I.;Liljeroth, P.; Vanmaekelbergh, D. ACS Nano 2012, 6, 10216.doi: 10.1021/nn3040155 (52) Pérez, R. Science 2012, 337, 1305. doi: 10.1126/science.1227726 (53) Gross, L.; Mohn, F.; Moll, N.; Meyer, G.; Ebel, R.; Abdel-Mageed,W. M.; Jaspars, M. Nat. Chem. 2010, 2, 821.doi: 10.1038/nchem.765 (54) Welker, J.; Giessibl, F. J. Science 2012, 336, 444. doi: 10.1126/science.1219850 (55) Mohn, F.; Repp, J.; Gross, L.; Meyer, G.; Dyer, M. S.; Persson,M. Phys. Rev. Lett. 2010, 105, 266102. doi: 10.1103/PhysRevLett.105.266102 (56) Pavliek, N.; Fleury, B.; Neu, M.; Niedenführ, J.; Herranz-Lancho, C.; Ruben, M.; Repp, J. Phys. Rev. Lett. 2012, 108,086101. doi: 10.1103/PhysRevLett.108.086101 (57) Stipe, B. C.; Rezaei, M. A.; Ho,W. Science 1998, 280, 1732.doi: 10.1126/science.280.5370.1732 (58) Setvín, M.; Mutombo, P.; Ondrácek, M.; Majzik, Z.; Švec, M.;Cháb, V.; Oštádal, I.; Sobotík, P.; Jelínek, P. ACS Nano 2012,6, 6969. doi: 10.1021/nn301996k (59) Sugimoto, Y.; Pou, P.; Abe, M.; Jelinek, P.; Perez, R.; Morita, S.;Custance, Ó. Nature 2007, 446, 64. doi: 10.1038/nature05530 (60) Hoffmann, R.; Kantorovich, L. N.; Baratoff, A.; Hug, H. J.;Güntherodt, H. J. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 146103.doi: 10.1103/PhysRevLett.92.146103 (61) Lantz, M. A.; Hoffmann, R.; Foster, A. S.; Baratoff, A.; Hug, H.J.; Hidber, H. R.; Güntherodt, H. J. Phys. Rev. B 2006, 74,245426. doi: 10.1103/PhysRevB.74.245426 (62) Foster, A. S.; Barth, C.; Henry, C. R. Phys. Rev. Lett. 2009, 102,256103. doi: 10.1103/PhysRevLett.102.256103 (63) Hoffmann, R.;Weiner, D.; Schirmeisen, A.; Foster, A. S. Phys.Rev. B 2009, 80, 115426. doi: 10.1103/PhysRevB.80.115426 (64) Lantz, M. A.; Hug, H. J.; Hoffmann, R.; van Schendel, P. J. A.;Kappenberger, P.; Martin, S.; Baratoff, A.; Güntherodt, H. J.Science 2001, 291, 2580. doi: 10.1126/science.1057824 (65) Guo, C. S.; Van Hove, M. A.; Zhang, R. Q.; Minot, C. Langmuir2010, 26, 16271. doi: 10.1021/la101317s (66) Eigler, D. M.; Schweizer, E. K. Nature 1990, 344, 524.doi: 10.1038/344524a0 (67) Bartels, L.; Meyer, G.; Rieder, K. H. Phys. Rev. Lett. 1997, 79,697. doi: 10.1103/PhysRevLett.79.697 (68) Bartels, L.; Meyer, G.; Rieder, K. H. Appl. Phys. Lett. 1997, 71,213. doi: 10.1063/1.119503 (69) Eigler, D. M.; Lutz, C. P.; Rudge,W. E. Nature 1991, 352, 600.doi: 10.1038/352600a0 (70) Crommie, M. F.; Lutz, C. P.; Eigler, D. M. Science 1993, 262,218. doi: 10.1126/science.262.5131.218 (71) Yamachika, R.; Grobis, M.;Wachowiak, A.; Crommie, M. F.Science 2004, 304, 281. doi: 10.1126/science.1095069 (72) Custance, Ó.; Pérez, R.; Morita, S. Nat. Nanotechnol. 2009, 4,803. doi: 10.1038/nnano.2009.347 (73) Tseng, A. A. Nano Today 2011, 6, 493. doi: 10.1016/j.nantod.2011.08.003 (74) Oyabu, N.; Custance, Ó.; Yi, I.; Sugawara, Y.; Morita, S. Phys.Rev. Lett. 2003, 90, 176102. doi: 10.1103/PhysRevLett.90.176102 (75) Sugimoto, Y.; Jelinek, P.; Pou, P.; Abe, M.; Morita, S.; Custance,Ó.; Pérez, R. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 106104. doi: 10.1103/PhysRevLett.98.106104 (76) Oyabu, N.; Sugimoto, Y.; Abe, M.; Custance, Ó.; Morita, S.Nanotechnology 2005, 16, S112. (77) Sugimoto, Y.; Abe, M.; Hirayama, S.; Oyabu, N.; Custance, Ó.;Morita, S. Nat. Mater. 2005, 4, 156. doi: 10.1038/nmat1297 (78) Sugimoto, Y.; Custance, Ó.; Abe, M.; Morita, S. e-J. Surf. Sci.Nanotech. 2006, 4, 376. doi: 10.1380/ejssnt.2006.376 (79) Sugimoto, Y.; Pou, P.; Custance, Ó.; Jelinek, P.; Abe, M.; Pérez,R.; Morita, S. Science 2008, 322, 413. doi: 10.1126/science.1160601 (80) Swart, I.; Sonnleitner, T.; Niedenführ, J.; Repp, J. Nano Lett.2012, 12, 1070. doi: 10.1021/nl204322r (81) Hirth, S.; Ostendorf, F.; Reichling, M. Nanotechnology 2006,17, S148. (82) Nishi, R.; Miyagawa, D.; Seino, Y.; Yi, I.; Morita, S.Nanotechnology 2006, 17, S142. (83) Yi, I.; Nishi, R.; Abe, M.; Sugimoto, Y.; Morita, S. Jpn. J. Appl.Phys. Lett. 2011, 50, 015201. doi: 10.1143/JJAP.50.015201 (84) Ternes, M.; Lutz, C. P.; Hirjibehedin, C. F.; Giessibl, F. J.;Heinrich, A. J. Science 2008, 319, 1066. doi: 10.1126/science.1150288 (85) Mao, H. Q.; Li, N.; Chen, X.; Xue, Q. K. J. Phys. Condes.Matter 2012, 24, 084004. doi: 10.1088/0953-8984/24/8/084004 (86) Fournier, N.;Wagner, C.;Weiss, C.; Temirov, R.; Tautz, F. S.Phys. Rev. B 2011, 84, 035435. doi: 10.1103/PhysRevB.84.035435 (87) Wagner, C.; Fournier, N.; Tautz, F. S.; Temirov, R. Phys. Rev.Lett. 2012, 109, 076102. doi: 10.1103/PhysRevLett.109.076102 (88) Pawlak, R.; Fremy, S.; Kawai, S.; Glatzel, T.; Fang, H.; Fendt,L. A.; Diederich, F.; Meyer, E. ACS Nano 2012, 6, 6318.doi: 10.1021/nn301774d (89) Zhao, J.W.; Liu, H. M.; Ni,W. B.; Guo, Y.; Yin, X. ActaPhys. -Chim. Sin. 2009, 25, 1472. [赵建伟, 刘洪梅, 倪文彬,郭彦, 尹星. 物理化学学报, 2009, 25, 1472.] doi: 10.3866/PKU.WHXB20090744 (90) Ai, Y.; Zhang, H. L. Acta Phys. -Chim. Sin. 2012, 28, 2237.[艾勇, 张浩力. 物理化学学报, 2012, 28, 2237.]doi: 10.3866/PKU.WHXB201209102 (91) Rubio-Bollinger, G.; Joyez, P.; Agraït, N. Phys. Rev. Lett.2004, 93, 116803. doi: 10.1103/PhysRevLett.93.116803 (92) Schirmeisen, A.; Cross, G.; Stalder, A.; Grütter, P.; Dürig, U.N. J. Phys. 2000, 2, 29. doi: 10.1088/1367-2630/2/1/329 (93) Sun, Y.; Mortensen, H.; Schär, S.; Lucier, A. S.; Miyahara, Y.;Grütter, P.; Hofer,W. Phys. Rev. B 2005, 71, 193407.doi: 10.1103/PhysRevB.71.193407 (94) Hembacher, S.; Giessibl, F. J.; Mannhart, J.; Quate, C. F. Phys.Rev. Lett. 2005, 94, 056101. doi: 10.1103/PhysRevLett.94.056101 (95) Chen, C. J. Nanotechnology 2005, 16, S27. (96) Hofer,W. A.; Fisher, A. J. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 036803.doi: 10.1103/PhysRevLett.91.036803 (97) Sawada, D.; Sugimoto, Y.; Morita, K. I.; Abe, M.; Morita, S.Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 173117. doi: 10.1063/1.3127503 (98) Ternes, M.; González, C.; Lutz, C. P.; Hapala, P.; Giessibl, F.J.; Jelínek, P.; Heinrich, A. J. Phys. Rev. Lett. 2011, 106,016802. doi: 10.1103/PhysRevLett.106.016802 (99) Majzik, Z.; Setvín, M.; Bettac, A.; Feltz, A.; Cháb, V.; Jelínek,P. Beilstein J. Nanotechnol. 2012, 3, 249. doi: 10.3762/bjnano.3.28 (100) Hauptmann, N.; Mohn, F.; Gross, L.; Meyer, G.; Frederiksen,T.; Berndt, R. N. J. Phys. 2012, 14, 073032. doi: 10.1088/1367-2630/14/7/073032 (101) Jelínek, P.; Švec, M.; Pou, P.; Pérez, R.; Cháb, V. Phys. Rev.Lett. 2008, 101, 176101. doi: 10.1103/PhysRevLett.101.176101 (102) Schull, G.; Frederiksen, T.; Brandbyge, M.; Berndt, R. Phys.Rev. Lett. 2009, 103, 206803. doi: 10.1103/PhysRevLett.103.206803 (103) Schull, G.; Dappe, Y. J.; González, C. S.; Bulou, H.; Berndt, R.Nano Lett. 2011, 11, 3142. doi: 10.1021/nl201185y (104) Sweetman, A.; Jarvis, S.; Danza, R.; Bamidele, J.;Gangopadhyay, S.; Shaw, G. A.; Kantorovich, L.; Moriarty, P.Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 136101. doi: 10.1103/PhysRevLett.106.136101 (105) Nonnenmacher, M.; O'Boyle, M. P.;Wickramasinghe, H. K.Appl. Phys. Lett. 1991, 58, 2921. doi: 10.1063/1.105227 (106) Sadewasser, S.; Jelinek, P.; Fang, C. K.; Custance, Ó.; Yamada,Y.; Sugimoto, Y.; Abe, M.; Morita, S. Phys. Rev. Lett. 2009,103, 266103. doi: 10.1103/PhysRevLett.103.266103 (107) König, T.; Heinke, L.; Simon, G. H.; Heyde, M. Phys. Rev. B2011, 83, 195435. doi: 10.1103/PhysRevB.83.195435 (108) Küppers, J.;Wandelt, K.; Ertl, G. Phys. Rev. Lett. 1979, 43,928. doi: 10.1103/PhysRevLett.43.928 (109) Wandelt, K. Appl. Surf. Sci. 1997, 111, 1. doi: 10.1016/S0169-4332(96)00692-7 (110) Glatzel, T. Measuring Atomic-Scale Variations of theElectrostatic Force. In Kelvin Probe Force Microscopy;Sadewasser, S., Glatzel, T. Eds.; Springer: Berlin, 2012; pp289-327. (111) Gross, L.; Mohn, F.; Liljeroth, P.; Repp, J.; Giessibl, F. J.;Meyer, G. Science 2009, 324, 1428. doi: 10.1126/science.1172273 (112) Liljeroth, P.; Repp, J.; Meyer, G. Science 2007, 317, 1203.doi: 10.1126/science.1144366 (113) Leoni, T.; Guillermet, O.;Walch, H.; Langlais, V.;Scheuermann, A.; Bonvoisin, J.; Gauthier, S. Phys. Rev. Lett.2011, 106, 216103. doi: 10.1103/PhysRevLett.106.216103 (114) Walch, H.; Leoni, T.; Guillermet, O.; Langlais, V.;Scheuermann, A.; Bonvoisin, J.; Gauthier, S. Phys. Rev. B2012, 86, 075423. doi: 10.1103/PhysRevB.86.075423 (115) König, T.; Simon, G. H.; Heinke, L.; Lichtenstein, L.; Heyde,M. Beilstein J. Nanotechnol. 2011, 2, 1. doi: 10.3762/bjnano.2.1 (116) König, T.; Simon, G. H.; Rust, H. P.; Pacchioni, G.; Heyde,M.; Freund, H. J. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 17544.doi: 10.1021/ja908049n (117) Heinke, L.; Lichtenstein, L.; Simon, G. H.; König, T.; Heyde,M.; Freund, H. J. ChemPhysChem 2010, 11, 2085.doi: 10.1002/cphc.v11:10 (118) Nikiforov, M. P.; Zerweck, U.; Milde, P.; Loppacher, C.; Park,T. H.; Uyeda, H. T.; Therien, M. J.; Eng, L.; Bonnell, D. NanoLett. 2008, 8, 110. doi: 10.1021/nl072175d (119) Ichii, T.; Fukuma, T.; Yoda, T.; Kobayashi, K.; Matsushige, K.;Yamada, H. J. Appl. Phys. 2010, 107, 024315. doi: 10.1063/1.3284094 (120) Barth, C.; Pakarinen, O. H.; Foster, A. S.; Henry, C. R.Nanotechnology 2006, 17, S128. (121) Loth, S.; Etzkorn, M.; Lutz, C. P.; Eigler, D. M.; Heinrich, A. J.Science 2010, 329, 1628. doi: 10.1126/science.1191688 |
[1] | 毕富珍,郑晓,任志勇. 甲胺基-甲脒基混合钙钛矿的第一性原理研究[J]. 物理化学学报, 2019, 35(1): 69 -75 . |
[2] | 奚晋扬,中村悠马,赵天琦,王冬,帅志刚. 石墨炔与锡烯层状体系的形变势和电声耦合及载流子传输理论研究[J]. 物理化学学报, 2018, 34(9): 961 -976 . |
[3] | 尹玥琪,蒋梦绪,刘春光. Keggin型多酸负载的单原子催化剂(M1/POM, M = Ni, Pd, Pt, Cu, Ag, Au, POM = [PW12O40]3-)活化氮气分子的密度泛函理论计算研究[J]. 物理化学学报, 2018, 34(3): 270 -277 . |
[4] | 代卫国,何丹农. 手性布洛芬对映体的选择性光电化学氧化[J]. 物理化学学报, 2017, 33(5): 960 -967 . |
[5] | 荆涛,戴瑛. 固溶体光催化材料的研究进展[J]. 物理化学学报, 2017, 33(2): 295 -304 . |
[6] | 刘梦溪,李世超,查泽奇,裘晓辉. qPlus型非接触原子力显微技术进展及前沿应用[J]. 物理化学学报, 2017, 33(1): 183 -197 . |
[7] | 裴蕾,张桂玲,尚岩孙,翠翠,甘甜. 硅桥调控的聚茂钒体系电子结构和输运性质[J]. 物理化学学报, 2016, 32(10): 2495 -2502 . |
[8] | 敖冰云, 叶小球, 陈丕恒. 钚固体材料理论研究进展[J]. 物理化学学报, 2015, 31(Suppl): 3 -13 . |
[9] | 李如松, 何彬, 李刚, 许鹏, 卢新城, 王飞. 基于密度泛函理论方法的δ相Pu 5f状态电子结构计算[J]. 物理化学学报, 2015, 31(Suppl): 75 -80 . |
[10] | 刘以良, 滑亚文, 蒋刚, 陈军. (Al16Ti)n± (n=0-3)离子团簇中Ti原子对电子结构及其与H2O分子相互作用的显著影响[J]. 物理化学学报, 2015, 31(7): 1315 -1322 . |
[11] | 袁俊辉, 高博, 汪文, 王嘉赋. Y-Cu共掺杂ZnO电子结构与光学性质的第一性原理计算[J]. 物理化学学报, 2015, 31(7): 1302 -1308 . |
[12] | 包金小, 王晓霞, 吴铜伟, 贾桂霄, 章永凡. 基于曲率和电子结构的掺杂C50和C70富勒烯的稳定性研究[J]. 物理化学学报, 2015, 31(5): 899 -904 . |
[13] | 黄豪杰, 徐江. Al代位合金化对D88-Ti5Si3力学性能与电子结构影响的第一性原理研究[J]. 物理化学学报, 2015, 31(2): 253 -260 . |
[14] | 邵妍,欧阳方平,彭盛霖,刘琦,贾治安,邹慧. 扶手椅型缺陷硫化钼纳米带电子性质的第一性原理计算[J]. 物理化学学报, 2015, 31(11): 2083 -2090 . |
[15] | 米传同, 刘国平, 王家佳, 郭新立, 吴三械, 于金. 缺陷石墨烯吸附Au、Ag、Cu的第一性原理计算[J]. 物理化学学报, 2014, 30(7): 1230 -1238 . |
|