原子分辨显微分析技术研究进展

doi:10.3866/PKU.WHXB201304191

摘要/Abstract

摘要：

非接触原子力显微技术(NC-AFM)近年来发展迅速. NC-AFM对单个分子的成像和谱学实现了原子分辨和单个化学键分辨. NC-AFM自身功能的拓展及其与不同探针技术的联用将为材料、物理、化学和生命科学有关的研究提供崭新的思路. 本文首先介绍NC-AFM和qPlus 传感器的基本原理, 然后讨论原子尺度的相互作用力和短程力的精确测量, 总结近年来NC-AFM在原子尺度的化学结构成像、化学识别、电子结构性质分析以及原子操纵技术中的研究进展, 并讨论了开尔文探针力显微技术(KPFM)在局域接触势差(LCPD)测量方面的应用. 最后展望了NC-AFM面临的挑战和发展机遇.

关键词: 扫描探针显微技术, 非接触原子力显微技术, qPlus 传感器, 化学识别, 原子操纵, 电子结构, 开尔文探针力显微技术

Abstract:

Tremendous progress has been made in non-contact atomic force microscopy (NC-AFM) recently. The spatial resolution of NC-AFM imaging and spectroscopy of individual molecules on surfaces has reached true atomic resolution and bond differentiation level. Combination of NC-AFM with other scanning probe techniques can open a new way for materials, physics, chemistry, and biochemistry studies. In this review, we first introduce the basic principle of NC-AFM and qPlus sensor. The interaction force at atomic scale and precise measurement of short-range force are discussed. We summarize the recent advances in structural determination of organic molecules, chemical identification, electronic structure, and atomic manipulation at the atomic scale. In addition, we also discuss the application of Kelvin probe force microscopy (KPFM) in measurement of local contact potential difference (LCPD). Finally, perspectives and challenges in NC-AFM techniques are presented.

Key words: Scanning probe microscopy, Non-contact atomic force microscopy, qPlus sensor, Chemical identification, Atomic manipulation, Electronic structure, Kelvin probe force microscopy

MSC2000:

O647

袁秉凯, 陈鹏程, 仉君, 程志海, 王琛, 裘晓辉. 原子分辨显微分析技术研究进展[J]. 物理化学学报, 2013, 29(07): 1370-1384.

YUAN Bing-Kai, CHEN Peng-Cheng, ZHANG Jun, CHENG Zhi-Hai, WANG Chen, QIU Xiao-Hui. Research Progress in Atomic Resolution Microscopy[J]. Acta Phys. -Chim. Sin., 2013, 29(07): 1370-1384.

参考文献

(1) Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, C.;Weibel, E. Phys. Rev. Lett.1982, 49, 57. doi: 10.1103/PhysRevLett.49.57
(2) Teague, E. C. Bull. Am. Phys. Soc. 1978, 23, 290.
(3) Coombs, J. H.; Pethica, J. B. IBM J. Res. Dev. 1986, 30, 455.doi: 10.1147/rd.305.0455
(4) Binnig, G.; Quate, C. F.; Gerber, C. Phys. Rev. Lett. 1986, 56,930. doi: 10.1103/PhysRevLett.56.930
(5) García, R.; Pérez, R. Surf. Sci. Rep. 2002, 47, 197. doi: 10.1016/S0167-5729(02)00077-8
(6) Martin, Y.;Williams, C. C.;Wickramasinghe, H. K. J. Appl.Phys. 1987, 61, 4723. doi: 10.1063/1.338807
(7) Zhong, Q.; Inniss, D.; Kjoller, K.; Elings, V. B. Surf. Sci. Lett.1993, 290, L688.
(8) Albrecht, T. R.; Grütter, P.; Horne, D.; Rugar, D. J. Appl. Phys.1991, 69, 668. doi: 10.1063/1.347347
(9) Gross, L. Nat. Chem. 2011, 3, 273. doi: 10.1038/nchem.1008
(10) Gross, L.; Mohn, F.; Moll, N.; Schuler, B.; Criado, A.; Guitián,E.; Peña, D.; Gourdon, A.; Meyer, G. Science 2012, 337, 1326.doi: 10.1126/science.1225621
(11) Baykara, M. Z.; Schwendemann, T. C.; Altman, E. I.; Schwarz,U. D. Adv. Mater. 2010, 22, 2838. doi: 10.1002/adma.200903909
(12) Mohn, F.; Gross, L.; Moll, N.; Meyer, G. Nat. Nanotechnol.2012, 7, 227. doi: 10.1038/nnano.2012.20
(13) Melitz,W.; Shen, J.; Kummel, A. C.; Lee, S. Surf. Sci. Rep.2011, 66, 1. doi: 10.1016/j.surfrep.2010.10.001
(14) Barth, C.; Foster, A. S.; Henry, C. R.; Shluger, A. L. Adv. Mater.2011, 23, 477. doi: 10.1002/adma.v23.4
(15) Giessibl, F. J. Rev. Mod. Phys. 2003, 75, 949. doi: 10.1103/RevModPhys.75.949
(16) Pérez, R.; Štich, I.; Payne, M. C.; Terakura, K. Phys. Rev. B1998, 58, 10835. doi: 10.1103/PhysRevB.58.10835
(17) Livshits, A. I.; Shluger, A. L.; Rohl, A. L.; Foster, A. S. Phys.Rev. B 1999, 59, 2436. doi: 10.1103/PhysRevB.59.2436
(18) Moll, N.; Gross, L.; Mohn, F.; Curioni, A.; Meyer, G. N. J.Phys. 2010, 12, 125020. doi: 10.1088/1367-2630/12/12/125020
(19) Moll, N.; Gross, L.; Mohn, F.; Curioni, A.; Meyer, G. N. J.Phys. 2012, 14, 083023. doi: 10.1088/1367-2630/14/8/083023
(20) Custance, Ó.; Oyabu, N.; Sugimoto, Y. Force Spectroscopy onSemiconductor Surfaces. In Noncontact Atomic ForceMicroscopy; Morita, S., Giessibl, F. J.,Wiesendanger, R. Eds.;Springer: Berlin, 2009; Vol. 2, pp 31-68.
(21) Giessibl, F. J. Materials Today 2005, 8, 32.
(22) Torbrugge, S.; Schaff, O.; Rychen, J. J. Vac. Sci. Technol. B2010, 28, C4E12.
(23) An, T.; Nishio, T.; Eguchi, T.; Ono, M.; Nomura, A.; Akiyama,K.; Hasegawa, Y. Rev. Sci. Instrum. 2008, 79, 033703.doi: 10.1063/1.2830937
(24) Giessibl, F. J. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 3956. doi: 10.1063/1.122948
(25) Heyde, M.; Kulawik, M.; Rust, H. P.; Freund, H. J. Rev. Sci.Instrum. 2004, 75, 2446. doi: 10.1063/1.1765753
(26) Giessibl, F. J.; Pielmeier, F.; Eguchi, T.; An, T.; Hasegawa, Y.Phys. Rev. B 2011, 84, 125409.
(27) Giessibl, F. J. Principles and Applications of the qPlus Sensor.In Noncontact Atomic Force Microscopy; Morita, S., Giessibl,F. J.,Wiesendanger, R. Eds.; Springer: Berlin, 2009; Vol. 2, pp121-142.
(28) Sader, J. E.; Jarvis, S. P. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 1801.doi: 10.1063/1.1667267
(29) Hamaker, H. C. Physica 1937, 4, 1058. doi: 10.1016/S0031-8914(37)80203-7
(30) Israelachvili, J. Intermolecular and Surface Forces, 3rd ed.;Academic Press: San Diego, 2011.
(31) Argento, C.; French, R. H. J. Appl. Phys. 1996, 80, 6081.doi: 10.1063/1.363680
(32) Ruschmeier, K.; Schirmeisen, A.; Hoffmann, R. Phys. Rev. Lett.2008, 101, 156102. doi: 10.1103/PhysRevLett.101.156102
(33) Such, B.; Glatzel, T.; Kawai, S.; Koch, S.; Meyer, E. J. Vac. Sci.Technol. B 2010, 28, C4B1.
(34) Kawai, S.; Glatzel, T.; Koch, S.; Baratoff, A.; Meyer, E. Phys.Rev. B 2011, 83, 035421. doi: 10.1103/PhysRevB.83.035421
(35) Sun, Z. X.; Boneschanscher, M. P.; Swart, I.; Vanmaekelbergh,D.; Liljeroth, P. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 046104. doi: 10.1103/PhysRevLett.106.046104
(36) Fremy, S.; Kawai, S.; Pawlak, R.; Glatzel, T.; Baratoff, A.;Meyer, E. Nanotechnology 2012, 23, 055401. doi: 10.1088/0957-4484/23/5/055401
(37) Albers, B. J.; Schwendemann, T. C.; Baykara, M. Z.; Pilet, N.;Liebmann, M.; Altman, E. I.; Schwarz, U. D. Nanotechnology2009, 20, 264002. doi: 10.1088/0957-4484/20/26/264002
(38) Albers, B. J.; Schwendemann, T. C.; Baykara, M. Z.; Pilet, N.;Liebmann, M.; Altman, E. I.; Schwarz, U. D. Nat. Nanotechnol.2009, 4, 307. doi: 10.1038/nnano.2009.57
(39) Weiss, C.;Wagner, C.; Temirov, R.; Tautz, F. S. J. Am. Chem.Soc. 2010, 132, 11864. doi: 10.1021/ja104332t
(40) Temirov, R.; Soubatch, S.; Neucheva, O.; Lassise, A. C.; Tautz,F. S. N. J. Phys. 2008, 10, 053012. doi: 10.1088/1367-2630/10/5/053012
(41) Weiss, C.;Wagner, C.; Kleimann, C.; Rohlfing, M.; Tautz, F. S.;Temirov, R. Phys. Rev. Lett. 2010, 105, 086103. doi: 10.1103/PhysRevLett.105.086103
(42) Kichin, G.;Weiss, C.;Wagner, C.; Tautz, F. S.; Temirov, R.J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 16847. doi: 10.1021/ja204624g
(43) Giessibl, F. J. Science 1995, 267, 68. doi: 10.1126/science.267.5194.68
(44) Noncontact Atomic Force Microscopy; Morita, S.,Wiesendanger, R., Meyer, E. Eds.; Springer: Berlin, 2002; Vol. 1.
(45) Morita, S. Introduction. In Noncontact Atomic ForceMicroscopy; Morita, S., Giessibl, F. J.,Wiesendanger, R. Eds.;Springer: Berlin, 2009; Vol. 2; pp 1-13.
(46) Giessibl, F. J.; Hembacher, S.; Bielefeldt, H.; Mannhart, J.Science 2000, 289, 422. doi: 10.1126/science.289.5478.422
(47) Hembacher, S.; Giessibl, F. J.; Mannhart, J. Science 2004, 305,380. doi: 10.1126/science.1099730
(48) Gross, L.; Mohn, F.; Moll, N.; Liljeroth, P.; Meyer, G. Science2009, 325, 1110. doi: 10.1126/science.1176210
(49) Pawlak, R.; Kawai, S.; Fremy, S.; Glatzel, T.; Meyer, E. ACSNano 2011, 5, 6349. doi: 10.1021/nn201462g
(50) Pawlak, R.; Kawai, S.; Fremy, S.; Glatzel, T.; Meyer, E. J. Phys.Condes. Matter 2012, 24, 084005. doi: 10.1088/0953-8984/24/8/084005
(51) Boneschanscher, M. P.; van der Lit, J.; Sun, Z.; Swart, I.;Liljeroth, P.; Vanmaekelbergh, D. ACS Nano 2012, 6, 10216.doi: 10.1021/nn3040155
(52) Pérez, R. Science 2012, 337, 1305. doi: 10.1126/science.1227726
(53) Gross, L.; Mohn, F.; Moll, N.; Meyer, G.; Ebel, R.; Abdel-Mageed,W. M.; Jaspars, M. Nat. Chem. 2010, 2, 821.doi: 10.1038/nchem.765
(54) Welker, J.; Giessibl, F. J. Science 2012, 336, 444. doi: 10.1126/science.1219850
(55) Mohn, F.; Repp, J.; Gross, L.; Meyer, G.; Dyer, M. S.; Persson,M. Phys. Rev. Lett. 2010, 105, 266102. doi: 10.1103/PhysRevLett.105.266102
(56) Pavliek, N.; Fleury, B.; Neu, M.; Niedenführ, J.; Herranz-Lancho, C.; Ruben, M.; Repp, J. Phys. Rev. Lett. 2012, 108,086101. doi: 10.1103/PhysRevLett.108.086101
(57) Stipe, B. C.; Rezaei, M. A.; Ho,W. Science 1998, 280, 1732.doi: 10.1126/science.280.5370.1732
(58) Setvín, M.; Mutombo, P.; Ondrácek, M.; Majzik, Z.; Švec, M.;Cháb, V.; Oštádal, I.; Sobotík, P.; Jelínek, P. ACS Nano 2012,6, 6969. doi: 10.1021/nn301996k
(59) Sugimoto, Y.; Pou, P.; Abe, M.; Jelinek, P.; Perez, R.; Morita, S.;Custance, Ó. Nature 2007, 446, 64. doi: 10.1038/nature05530
(60) Hoffmann, R.; Kantorovich, L. N.; Baratoff, A.; Hug, H. J.;Güntherodt, H. J. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 146103.doi: 10.1103/PhysRevLett.92.146103
(61) Lantz, M. A.; Hoffmann, R.; Foster, A. S.; Baratoff, A.; Hug, H.J.; Hidber, H. R.; Güntherodt, H. J. Phys. Rev. B 2006, 74,245426. doi: 10.1103/PhysRevB.74.245426
(62) Foster, A. S.; Barth, C.; Henry, C. R. Phys. Rev. Lett. 2009, 102,256103. doi: 10.1103/PhysRevLett.102.256103
(63) Hoffmann, R.;Weiner, D.; Schirmeisen, A.; Foster, A. S. Phys.Rev. B 2009, 80, 115426. doi: 10.1103/PhysRevB.80.115426
(64) Lantz, M. A.; Hug, H. J.; Hoffmann, R.; van Schendel, P. J. A.;Kappenberger, P.; Martin, S.; Baratoff, A.; Güntherodt, H. J.Science 2001, 291, 2580. doi: 10.1126/science.1057824
(65) Guo, C. S.; Van Hove, M. A.; Zhang, R. Q.; Minot, C. Langmuir2010, 26, 16271. doi: 10.1021/la101317s
(66) Eigler, D. M.; Schweizer, E. K. Nature 1990, 344, 524.doi: 10.1038/344524a0
(67) Bartels, L.; Meyer, G.; Rieder, K. H. Phys. Rev. Lett. 1997, 79,697. doi: 10.1103/PhysRevLett.79.697
(68) Bartels, L.; Meyer, G.; Rieder, K. H. Appl. Phys. Lett. 1997, 71,213. doi: 10.1063/1.119503
(69) Eigler, D. M.; Lutz, C. P.; Rudge,W. E. Nature 1991, 352, 600.doi: 10.1038/352600a0
(70) Crommie, M. F.; Lutz, C. P.; Eigler, D. M. Science 1993, 262,218. doi: 10.1126/science.262.5131.218
(71) Yamachika, R.; Grobis, M.;Wachowiak, A.; Crommie, M. F.Science 2004, 304, 281. doi: 10.1126/science.1095069
(72) Custance, Ó.; Pérez, R.; Morita, S. Nat. Nanotechnol. 2009, 4,803. doi: 10.1038/nnano.2009.347
(73) Tseng, A. A. Nano Today 2011, 6, 493. doi: 10.1016/j.nantod.2011.08.003
(74) Oyabu, N.; Custance, Ó.; Yi, I.; Sugawara, Y.; Morita, S. Phys.Rev. Lett. 2003, 90, 176102. doi: 10.1103/PhysRevLett.90.176102
(75) Sugimoto, Y.; Jelinek, P.; Pou, P.; Abe, M.; Morita, S.; Custance,Ó.; Pérez, R. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 106104. doi: 10.1103/PhysRevLett.98.106104
(76) Oyabu, N.; Sugimoto, Y.; Abe, M.; Custance, Ó.; Morita, S.Nanotechnology 2005, 16, S112.
(77) Sugimoto, Y.; Abe, M.; Hirayama, S.; Oyabu, N.; Custance, Ó.;Morita, S. Nat. Mater. 2005, 4, 156. doi: 10.1038/nmat1297
(78) Sugimoto, Y.; Custance, Ó.; Abe, M.; Morita, S. e-J. Surf. Sci.Nanotech. 2006, 4, 376. doi: 10.1380/ejssnt.2006.376
(79) Sugimoto, Y.; Pou, P.; Custance, Ó.; Jelinek, P.; Abe, M.; Pérez,R.; Morita, S. Science 2008, 322, 413. doi: 10.1126/science.1160601
(80) Swart, I.; Sonnleitner, T.; Niedenführ, J.; Repp, J. Nano Lett.2012, 12, 1070. doi: 10.1021/nl204322r
(81) Hirth, S.; Ostendorf, F.; Reichling, M. Nanotechnology 2006,17, S148.
(82) Nishi, R.; Miyagawa, D.; Seino, Y.; Yi, I.; Morita, S.Nanotechnology 2006, 17, S142.
(83) Yi, I.; Nishi, R.; Abe, M.; Sugimoto, Y.; Morita, S. Jpn. J. Appl.Phys. Lett. 2011, 50, 015201. doi: 10.1143/JJAP.50.015201
(84) Ternes, M.; Lutz, C. P.; Hirjibehedin, C. F.; Giessibl, F. J.;Heinrich, A. J. Science 2008, 319, 1066. doi: 10.1126/science.1150288
(85) Mao, H. Q.; Li, N.; Chen, X.; Xue, Q. K. J. Phys. Condes.Matter 2012, 24, 084004. doi: 10.1088/0953-8984/24/8/084004
(86) Fournier, N.;Wagner, C.;Weiss, C.; Temirov, R.; Tautz, F. S.Phys. Rev. B 2011, 84, 035435. doi: 10.1103/PhysRevB.84.035435
(87) Wagner, C.; Fournier, N.; Tautz, F. S.; Temirov, R. Phys. Rev.Lett. 2012, 109, 076102. doi: 10.1103/PhysRevLett.109.076102
(88) Pawlak, R.; Fremy, S.; Kawai, S.; Glatzel, T.; Fang, H.; Fendt,L. A.; Diederich, F.; Meyer, E. ACS Nano 2012, 6, 6318.doi: 10.1021/nn301774d
(89) Zhao, J.W.; Liu, H. M.; Ni,W. B.; Guo, Y.; Yin, X. ActaPhys. -Chim. Sin. 2009, 25, 1472. [赵建伟, 刘洪梅, 倪文彬,郭彦, 尹星. 物理化学学报, 2009, 25, 1472.] doi: 10.3866/PKU.WHXB20090744
(90) Ai, Y.; Zhang, H. L. Acta Phys. -Chim. Sin. 2012, 28, 2237.[艾勇, 张浩力. 物理化学学报, 2012, 28, 2237.]doi: 10.3866/PKU.WHXB201209102
(91) Rubio-Bollinger, G.; Joyez, P.; Agraït, N. Phys. Rev. Lett.2004, 93, 116803. doi: 10.1103/PhysRevLett.93.116803
(92) Schirmeisen, A.; Cross, G.; Stalder, A.; Grütter, P.; Dürig, U.N. J. Phys. 2000, 2, 29. doi: 10.1088/1367-2630/2/1/329
(93) Sun, Y.; Mortensen, H.; Schär, S.; Lucier, A. S.; Miyahara, Y.;Grütter, P.; Hofer,W. Phys. Rev. B 2005, 71, 193407.doi: 10.1103/PhysRevB.71.193407
(94) Hembacher, S.; Giessibl, F. J.; Mannhart, J.; Quate, C. F. Phys.Rev. Lett. 2005, 94, 056101. doi: 10.1103/PhysRevLett.94.056101
(95) Chen, C. J. Nanotechnology 2005, 16, S27.
(96) Hofer,W. A.; Fisher, A. J. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 036803.doi: 10.1103/PhysRevLett.91.036803
(97) Sawada, D.; Sugimoto, Y.; Morita, K. I.; Abe, M.; Morita, S.Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 173117. doi: 10.1063/1.3127503
(98) Ternes, M.; González, C.; Lutz, C. P.; Hapala, P.; Giessibl, F.J.; Jelínek, P.; Heinrich, A. J. Phys. Rev. Lett. 2011, 106,016802. doi: 10.1103/PhysRevLett.106.016802
(99) Majzik, Z.; Setvín, M.; Bettac, A.; Feltz, A.; Cháb, V.; Jelínek,P. Beilstein J. Nanotechnol. 2012, 3, 249. doi: 10.3762/bjnano.3.28
(100) Hauptmann, N.; Mohn, F.; Gross, L.; Meyer, G.; Frederiksen,T.; Berndt, R. N. J. Phys. 2012, 14, 073032. doi: 10.1088/1367-2630/14/7/073032
(101) Jelínek, P.; Švec, M.; Pou, P.; Pérez, R.; Cháb, V. Phys. Rev.Lett. 2008, 101, 176101. doi: 10.1103/PhysRevLett.101.176101
(102) Schull, G.; Frederiksen, T.; Brandbyge, M.; Berndt, R. Phys.Rev. Lett. 2009, 103, 206803. doi: 10.1103/PhysRevLett.103.206803
(103) Schull, G.; Dappe, Y. J.; González, C. S.; Bulou, H.; Berndt, R.Nano Lett. 2011, 11, 3142. doi: 10.1021/nl201185y
(104) Sweetman, A.; Jarvis, S.; Danza, R.; Bamidele, J.;Gangopadhyay, S.; Shaw, G. A.; Kantorovich, L.; Moriarty, P.Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 136101. doi: 10.1103/PhysRevLett.106.136101
(105) Nonnenmacher, M.; O'Boyle, M. P.;Wickramasinghe, H. K.Appl. Phys. Lett. 1991, 58, 2921. doi: 10.1063/1.105227
(106) Sadewasser, S.; Jelinek, P.; Fang, C. K.; Custance, Ó.; Yamada,Y.; Sugimoto, Y.; Abe, M.; Morita, S. Phys. Rev. Lett. 2009,103, 266103. doi: 10.1103/PhysRevLett.103.266103
(107) König, T.; Heinke, L.; Simon, G. H.; Heyde, M. Phys. Rev. B2011, 83, 195435. doi: 10.1103/PhysRevB.83.195435
(108) Küppers, J.;Wandelt, K.; Ertl, G. Phys. Rev. Lett. 1979, 43,928. doi: 10.1103/PhysRevLett.43.928
(109) Wandelt, K. Appl. Surf. Sci. 1997, 111, 1. doi: 10.1016/S0169-4332(96)00692-7
(110) Glatzel, T. Measuring Atomic-Scale Variations of theElectrostatic Force. In Kelvin Probe Force Microscopy;Sadewasser, S., Glatzel, T. Eds.; Springer: Berlin, 2012; pp289-327.
(111) Gross, L.; Mohn, F.; Liljeroth, P.; Repp, J.; Giessibl, F. J.;Meyer, G. Science 2009, 324, 1428. doi: 10.1126/science.1172273
(112) Liljeroth, P.; Repp, J.; Meyer, G. Science 2007, 317, 1203.doi: 10.1126/science.1144366
(113) Leoni, T.; Guillermet, O.;Walch, H.; Langlais, V.;Scheuermann, A.; Bonvoisin, J.; Gauthier, S. Phys. Rev. Lett.2011, 106, 216103. doi: 10.1103/PhysRevLett.106.216103
(114) Walch, H.; Leoni, T.; Guillermet, O.; Langlais, V.;Scheuermann, A.; Bonvoisin, J.; Gauthier, S. Phys. Rev. B2012, 86, 075423. doi: 10.1103/PhysRevB.86.075423
(115) König, T.; Simon, G. H.; Heinke, L.; Lichtenstein, L.; Heyde,M. Beilstein J. Nanotechnol. 2011, 2, 1. doi: 10.3762/bjnano.2.1
(116) König, T.; Simon, G. H.; Rust, H. P.; Pacchioni, G.; Heyde,M.; Freund, H. J. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 17544.doi: 10.1021/ja908049n
(117) Heinke, L.; Lichtenstein, L.; Simon, G. H.; König, T.; Heyde,M.; Freund, H. J. ChemPhysChem 2010, 11, 2085.doi: 10.1002/cphc.v11:10
(118) Nikiforov, M. P.; Zerweck, U.; Milde, P.; Loppacher, C.; Park,T. H.; Uyeda, H. T.; Therien, M. J.; Eng, L.; Bonnell, D. NanoLett. 2008, 8, 110. doi: 10.1021/nl072175d
(119) Ichii, T.; Fukuma, T.; Yoda, T.; Kobayashi, K.; Matsushige, K.;Yamada, H. J. Appl. Phys. 2010, 107, 024315. doi: 10.1063/1.3284094
(120) Barth, C.; Pakarinen, O. H.; Foster, A. S.; Henry, C. R.Nanotechnology 2006, 17, S128.
(121) Loth, S.; Etzkorn, M.; Lutz, C. P.; Eigler, D. M.; Heinrich, A. J.Science 2010, 329, 1628. doi: 10.1126/science.1191688

[1]	毕富珍,郑晓,任志勇. 甲胺基-甲脒基混合钙钛矿的第一性原理研究[J]. 物理化学学报, 2019, 35(1): 69-75.
[2]	奚晋扬,中村悠马,赵天琦,王冬,帅志刚. 石墨炔与锡烯层状体系的形变势和电声耦合及载流子传输理论研究[J]. 物理化学学报, 2018, 34(9): 961-976.
[3]	尹玥琪,蒋梦绪,刘春光. Keggin型多酸负载的单原子催化剂(M₁/POM, M = Ni, Pd, Pt, Cu, Ag, Au, POM = [PW₁₂O₄₀]^3-)活化氮气分子的密度泛函理论计算研究[J]. 物理化学学报, 2018, 34(3): 270-277.
[4]	代卫国,何丹农. 手性布洛芬对映体的选择性光电化学氧化[J]. 物理化学学报, 2017, 33(5): 960-967.
[5]	荆涛,戴瑛. 固溶体光催化材料的研究进展[J]. 物理化学学报, 2017, 33(2): 295-304.
[6]	刘梦溪,李世超,查泽奇,裘晓辉. qPlus型非接触原子力显微技术进展及前沿应用[J]. 物理化学学报, 2017, 33(1): 183-197.
[7]	裴蕾,张桂玲,尚岩孙,翠翠,甘甜. 硅桥调控的聚茂钒体系电子结构和输运性质[J]. 物理化学学报, 2016, 32(10): 2495-2502.
[8]	敖冰云, 叶小球, 陈丕恒. 钚固体材料理论研究进展[J]. 物理化学学报, 2015, 31(Suppl): 3-13.
[9]	李如松, 何彬, 李刚, 许鹏, 卢新城, 王飞. 基于密度泛函理论方法的δ相Pu 5f状态电子结构计算[J]. 物理化学学报, 2015, 31(Suppl): 75-80.
[10]	刘以良, 滑亚文, 蒋刚, 陈军. (Al₁₆Ti)^n± (n=0-3)离子团簇中Ti原子对电子结构及其与H₂O分子相互作用的显著影响[J]. 物理化学学报, 2015, 31(7): 1315-1322.
[11]	袁俊辉, 高博, 汪文, 王嘉赋. Y-Cu共掺杂ZnO电子结构与光学性质的第一性原理计算[J]. 物理化学学报, 2015, 31(7): 1302-1308.
[12]	包金小, 王晓霞, 吴铜伟, 贾桂霄, 章永凡. 基于曲率和电子结构的掺杂C₅₀和C₇₀富勒烯的稳定性研究[J]. 物理化学学报, 2015, 31(5): 899-904.
[13]	黄豪杰, 徐江. Al代位合金化对D8₈-Ti₅Si₃力学性能与电子结构影响的第一性原理研究[J]. 物理化学学报, 2015, 31(2): 253-260.
[14]	邵妍,欧阳方平,彭盛霖,刘琦,贾治安,邹慧. 扶手椅型缺陷硫化钼纳米带电子性质的第一性原理计算[J]. 物理化学学报, 2015, 31(11): 2083-2090.
[15]	米传同, 刘国平, 王家佳, 郭新立, 吴三械, 于金. 缺陷石墨烯吸附Au、Ag、Cu的第一性原理计算[J]. 物理化学学报, 2014, 30(7): 1230-1238.