(1) Tong, H.; Ouyang, S. X.; Bi, Y. P.; Umezawa, N.; Oshikiri, M.;Ye, J. Adv. Mater. 2012, 24 (2), 229. doi: 10.1002/adma.201102752
(2) Chen, C. C.; Ma, W. H.; Zhao, J. C. Chem. Soc. Rev. 2010, 39 (11), 4206. doi: 10.1039/b921692h
(3) Fujishima, A.; Zhang, X. T.; Tryk, D. A. Surf. Sci. Rep. 2008, 63 (12), 515. doi: 10.1016/j.surfrep.2008.10.001
(4) Yan, H. J.; Yang, J. H.; Ma, G. J.;Wu, G. P.; Zong, X.; Lei, Z.B.; Shi, J. Y. J. Catal. 2009, 266 (2), 165. doi: 10.1016/j.jcat.2009.06.024
(5) Ying, H.; Wang, Z. Y.; Guo, Z. D.; Shi, Z. J.; Yang, S. F. Acta Phys. -Chim. Sin. 2011, 27 (6), 1482. [应红, 王志永,郭政铎,施祖进, 杨上峰.物理化学学报, 2011, 27 (6), 1482.] doi: 10.3866/PKU.WHXB20110630
(6) Stevens, R.; Woodfield, B. F.; Boerio-Goates, J.; Crawford, M.K. J. Chem. Thermodyn. 2004, 36 (5), 349. doi: 10.1016/j.jct.2003.12.010
(7) Pei, L. Z.; Yang, Y.; Yang, L. J.; Fan, G. G.; Yuan, C. Z.; Zhang,Q. F. Solid State Commun. 2011, 151 (14-15), 1036. doi: 10.1016/j.ssc.2011.04.017
(8) Liu, Z. S.; Jing, X. P.; Wang, L. X. J. Electrochem. Soc. 2007,154 (6), H500. doi: 10.1149/1.2720769
(9) Takeshita, S.; Honda, J.; Isobe, T.; Sawayama, T.; Niikura, S. Cryst. Growth Des. 2010, 10 (10), 4494. doi: 10.1021/cg100753g
(10) Yoon, K. H.; Kim, J. H. Thin Solid Films 2010, 519 (5), 1583.doi: 10.1016/j.tsf.2010.08.157
(11) Yan, C. Y.; Singh, N. D.; Lee, P. S. Appl. Phys. Lett. 2010, 96 (5), 053108. doi: 10.1063/1.3297905
(12) Ma, B. J.; Wen, F. Y.; Jiang, H. F.; Yang, J. H.; Ying, P. L.; Li, C. Catal. Lett. 2010, 134 (1-2), 78. doi: 10.1007/s10562-009-0220-8
(13) Yan, S. C.; Wan, L. J.; Li, Z. S.; Zou, Z. G. Chem. Commun.2011, 47 (19), 5632. doi: 10.1039/c1cc10513b
(14) Huang, J. H.; Ding, K. N.; Hou, Y. D.; Wang, X. C.; Fu, X. C.ChemSusChem 2008, 1 (12), 1011. doi: 10.1002/cssc.200800166
(15) Chi, J. H.; Wang, J. Acta Phys. -Chim. Sin. 2010, 26 (8), 2306.[池俊红,王娟.物理化学学报, 2010, 26 (8), 2306.] doi: 10.3866/PKU.WHXB20100820
(16) Li, X. N.; Bai, S. L.; Yang, W. S. Acta Phys. -Chim. Sin. 2012, 28 (7), 1797. [李晓宁, 白守礼, 杨文胜.物理化学学报, 2012, 28 (7), 1797.] doi: 10.3866/PKU.WHXB201205081
(17) Yan, C. Y.; Lee, P. S. J. Phys. Chem. C 2009, 114 (1), 265. doi: 10.1021/jp909068v
(18) Yan, C. Y.; Lee, P. S. J. Phys. Chem. C 2009, 113 (32), 14135.doi: 10.1021/jp9050879
(19) Tsai, M. Y.; Yu, C. Y.; Wang, C. C.; Perng, T. Y. J. Cryst. Growth Des. 2008, 8 (7), 2264. doi: 10.1021/cg700924j
(20) Liu, Q.; Zhou, Y.; Kou, J. H.; Chen, X. Y.; Tian, Z. P.; Gao, J.;Yan, S. C.; Zou, Z. G. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132 (41), 14385.doi: 10.1021/ja1068596
(21) Yu, L.; Zou, R. J.; Zhang, Z. Y.; Song, G. S.; Chen, Z. G.; Yang,J. M.; Hu, J. Q. Chem. Commun. 2011, 47 (38), 10719. doi: 10.1039/c1cc14159g
(22) Mao, X. L.; Xu, D. X.; Fu, M. I.; Yuan, B. L.; Shi, J. W.; Cui, H.J. J. Chem. Eng. 2013, 218, 73. doi: 10.1016/j.cej.2012.12.031
(23) Nüchter, M.; Ondruschka, B.; Bonrath, W.; Gum, A. Green Chem. 2004, 6 (3), 128. doi: 10.1039/b310502d
(24) Zhang, L.; Cao, X. F.; Ma, Y. L.; Chen, X. T.; Xue, Z. L.CrystEngComm 2010, 12 (10), 3201. doi: 10.1039/b927170h
(25) Du, J.; Li, X. L.; Wang, S. J.; Wu, Y. Z.; Hao, X. P.; Xu, C. W.;Zhao, X. J. Mater. Chem. 2012, 22 (22), 11390. doi: 10.1039/c2jm30882g
(26) Mou, Q. Y.; Li, X. J. Physics 2004, 33 (6), 438. [牟群英, 李贤军. 物理, 2004, 33 (6), 438.] doi: 0379-4148.0.2004.06.013
(27) Xiao, H. J.; Xu, Y. X.; Ning, Q. J. J. Shaanxi Univ. Sci. Tech. (Nat. Sci. Ed.) 2009, 27 (4), 164. [肖昊江,徐依玺,宁青菊.陕西科技大学学报(自然科学版), 2009, 27 (4), 164.]
(28) Zhang, L.; Cao, X. F.; Chen, X. T.; Xue, Z. L. CrystEngComm2011, 13, 2464. doi: 10.1039/c0ce00872a
(29) Boppana, V. B. R.; Hould, N. D.; Lobo, R. F. J. Solid State Chem. 2011, 184 (5), 1054. doi: 10.1016/j.jssc.2011.02.022
(30) Daharma, J.; Pisal, A. Simple Method of Measuring the BandGap Energy Value of TiO2 in the Powder Formusing a UV/Vis/NIR Spectrometer. http://www.doc88.com/p-585323605130.html (accessed Jun 18, 2013).
(31) Liu, Z. Q.; Zhou, Y. P.; Ge, C. C. Rare. Metal. Mat. Eng. 2006,35 (Suppl. 2), 104. [刘中清, 周艳平,葛昌纯. 稀有金属材料与工程, 2006, 35 (Suppl. 2), 104.] doi: 1002-185x.0.2006-S2-026 |