1 |
Diebold U. Surf. Sci. Rep. 2003, 48, 53.
doi: 10.1016/S0167-5729(02)00100-0
|
2 |
Fujishima A. ; Zhang X. T. ; Tryk D. A. Surf. Sci. Rep. 2008, 63, 515.
doi: 10.1016/j.surfrep.2008.10.001
|
3 |
Henderson M. A. Surf. Sci. Rep. 2011, 66, 185.
doi: 10.1016/j.surfrep.2011.01.001
|
4 |
Schneider J. ; Matsuoka M. ; Takeuchi M. ; Zhang J. L. ; Horiuchi Y. ; Anpo M. ; Bahnemann D. W. Chem. Rev. 2014, 114, 9919.
doi: 10.1021/cr5001892
|
5 |
Guo Q. ; Zhou C. Y. ; Ma Z. B. ; Ren Z. F. ; Fan H. J. ; Yang X. M. Acta Phys. -Chim. Sin. 2016, 32, 28.
doi: 10.3866/PKU.WHXB201512081
|
|
郭庆; 周传耀; 马志博; 任泽峰; 樊红军; 杨学明. 物理化学学报, 2016, 32, 28.
doi: 10.3866/PKU.WHXB201512081
|
6 |
Luttrell T. ; Halpegamage S. ; Tao J. ; Kramer A. ; Sutter E. ; Batzill M. Sci. Rep. 2014, 4, 4043.
doi: 10.1038/srep04043
|
7 |
Vittadini A. ; Selloni A. ; Rotzinger F. P. ; Grätzel M. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 2954.
doi: 10.1103/PhysRevLett.81.2954
|
8 |
Gong X. Q. ; Selloni A. ; Vittadini A. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 2804.
doi: 10.1021/jp056572t
|
9 |
Lu Y. Acta Phys. -Chim. Sin. 2016, 32, 2185.
doi: 10.3866/PKU.WHXB201605255
|
|
陆阳. 物理化学学报, 2016, 32, 2185.
doi: 10.3866/PKU.WHXB201605255
|
10 |
Ohsawa T. ; Lyubinetsky I. V. ; Henderson M. A. ; Chambers S. A. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 20050.
doi: 10.1021/jp8077997
|
11 |
Pan J. ; Liu G. ; Lu G. Q. ; Cheng H. M. Angew. Chem. Int. Ed. 2011, 123, 2181.
doi: 10.1002/ange.201006057
|
12 |
Tachikawa T. ; Yamashita S. ; Majima T. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 7197.
doi: 10.1021/ja201415j
|
13 |
Wang X. ; Li R. G. ; Xu Q. ; Han H. X. ; Li C. Acta Phys. -Chim. Sin. 2013, 29, 1566.
doi: 10.3866/PKU.WHXB201304284
|
|
王翔; 李仁贵; 徐倩; 韩洪宪; 李灿. 物理化学学报, 2013, 29, 1566.
doi: 10.3866/PKU.WHXB201304284
|
14 |
Herman G. S. ; Gao Y. Thin Solid Films 2001, 397, 157.
doi: 10.1016/S0040-6090(01)01476-6
|
15 |
Lazzeri M. ; Selloni A. Phys. Rev. Lett. 2001, 87, 266105.
doi: 10.1103/PhysRevLett.87.266105
|
16 |
Wang Y. ; Sun H. J. ; Tan S. J. ; Feng H. ; Cheng Z. W. ; Zhao J. ; Zhao A. D. ; Wang B. ; Luo Y. ; Yang J. L. ; et al Nat. Commun. 2013, 4, 2214.
doi: 10.1038/ncomms3214
|
17 |
Tang H. Q. ; Cheng Z. W. ; Dong S. H. ; Cui X. F. ; Feng H. ; Ma X. C. ; Luo B. ; Zhao A. D. ; Zhao J. ; Wang B. J. Phys. Chem. C 2017, 121, 1272.
doi: 10.1021/acs.jpcc.6b12917
|
18 |
Cheng Z. W. ; Tang H. Q. ; Cui X. F. ; Dong S. H. ; Ma X. C. ; Luo B. ; Tan S. J. ; Wang B. J. Phys. Chem. C 2017, 121, 19930.
doi: 10.1021/acs.jpcc.7b07256
|
19 |
Luo B. ; Tang H. Q. ; Cheng Z. W. ; Ji Y. Y. ; Cui X. F. ; Shi Y. L. ; Wang B. J. Phys. Chem. C 2017, 121, 17289.
doi: 10.1021/acs.jpcc.7b04530
|
20 |
Xu M. L. ; Wang S. ; Wang H. Phys. Chem. Chem. Phys. 2017, 19, 16615.
doi: 10.1039/C7CP03457A
|
21 |
Shi Y. L. ; Sun H. J. ; Saidi W. A. ; Nguyen M. C. ; Wang C. Z. ; Ho K. M. ; Yang J. L. ; Zhao J. J. Phys. Chem. Lett. 2017, 8, 1764.
doi: 10.1021/acs.jpclett.7b00181
|
22 |
Sun H. J. ; Lu W. C. ; Zhao J. J. Phys. Chem. C 2018, 122, 14528.
doi: 10.1021/acs.jpcc.8b02777
|
23 |
Yuan W. T. ; Wu H. L. ; Li H. B. ; Dai Z. X. ; Zhang Z. ; Sun C. H. ; Wang Y. Chem. Mater. 2017, 29, 3189.
doi: 10.1021/acs.chemmater.7b00284
|
24 |
Xiong F. ; Yin L. L. ; Wang Z. M. ; Jin Y. K. ; Sun G. H. ; Gong X. Q. ; Huang W. X. J. Phys. Chem. C 2017, 121, 9991.
doi: 10.1021/acs.jpcc.7b02154
|
25 |
Vitale E. ; Zollo G. ; Agosta L. ; Gala F. ; Brandt E. G. ; Lyubartsev A. J. Phys. Chem. C 2018, 122, 22407.
doi: 10.1021/acs.jpcc.8b05646
|
26 |
Beinik I. ; Bruix A. ; Li Z. S. ; Adamsen K. C. ; Koust S. ; Hammer B. ; Wendt S. ; Lauritsen J. V. Phys. Rev. Lett. 2018, 121, 206003.
doi: 10.1103/PhysRevLett.121.206003
|
27 |
Murakami M. ; Matsumoto Y. ; Nakajima K. ; Makino T. ; Segawa Y. ; Chikyow T. ; Ahmet P. ; Kawasaki M. ; Koinuma H. Appl. Phys. Lett. 2001, 78, 2664.
doi: 10.1063/1.1365412
|
28 |
Yamamoto S. ; Sumita T. ; Miyashita A. ; Naramoto H. Thin Solid Films 2001, 401, 88.
doi: 10.1016/S0040-6090(01)01636-4
|
29 |
Du Y. G. ; Kim D. J. ; Kaspar T. C. ; Chamberlin S. E. ; Lyubinetsky I. ; Chambers S. A. Surf. Sci. 2012, 606, 1443.
doi: 10.1016/j.susc.2012.05.010
|
30 |
Krupski K. ; Sanchez A. M. ; Krupski A. ; McConville C. F. Appl. Surf. Sci. 2016, 388, 684.
doi: 10.1016/j.apsusc.2016.02.214
|
31 |
Liang Y. ; Gan S. P. ; Chambers S. A. ; Altman E. I. Phys. Rev. B 2001, 63, 235402.
doi: 10.1103/PhysRevB.63.235402
|
32 |
Moulder J. F. ; Stickle W. F. ; Sobol P. E. ; Bomben K. D. ; Chastain J. Handbook of X-Ray Photoelectron Spectroscopy; Perkin-Elmer: Minnesota 1992, pp. 104- 139.
|
33 |
Watanabe Y. ; Matsumoto Y. ; Kunitomo H. ; Tanamura M. ; Nishimoto E. Jpn. J. Appl. Phys. 1994, 33, 5182.
doi: 10.1143/JJAP.33.5182
|
34 |
Herman G. S. ; Sievers M. R. ; Gao Y. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 3354.
doi: 10.1103/PhysRevLett.84.3354
|
35 |
Xia Y. B. ; Zhu K. ; Kaspar T. C. ; Du Y. G. ; Birmingham B. ; Park K. T. ; Zhang Z. R. J. Phys. Chem. Lett. 2013, 4, 2958.
doi: 10.1021/jz401284u
|
36 |
Shi Y. L. ; Sun H. J. ; Nguyen M. C. ; Wang C. Z. ; Ho K. M. ; Saidi W. A. ; Zhao J. Nanoscale 2017, 9, 11553.
doi: 10.1039/C7NR0245
|