物理化学学报 >> 2016, Vol. 32 >> Issue (1): 283-289.doi: 10.3866/PKU.WHXB201511132

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单晶硅片负极界面形貌的原位AFM探测

刘兴蕊,严会娟,王栋*(),万立骏   

  • 收稿日期:2015-10-02 发布日期:2016-01-13
  • 通讯作者: 王栋 E-mail:wangd@iccas.ac.cn
  • 基金资助:
    科技部(2011YQ03012415, 2011CB932302);国家自然科学基金(21127901, 21573252)

In situ AFM Investigation of Interfacial Morphology of Single Crystal Silicon Wafer Anode

Xing-Rui LIU,Hui-Juan YAN,Dong WANG*(),Li-Jun WAN