物理化学学报 >> 1998, Vol. 14 >> Issue (02): 115-120.doi: 10.3866/PKU.WHXB19980204
何勇, 熊轶嘉, 王朝晖, 朱起鹤, 孔繁敖
He Yong, Xiong Yi-Jia, Wang Chao-Hui, Zhu Qi-He, Kong Fan-Ao
摘要:
采用微扰密度矩阵和瞬态线性极化率理论,自编计算机程序,模拟了液相LDS698染料分子第一激发电于态S1的飞秒受激辐射荧光亏蚀谱,初步定量地确定了该分子S1态的超快振动弛豫速率以及S1与S0态间的Huang-Rhys因子,通过理论分析确认,测量的受激辐射荧光亏蚀谱,前面一段快速增加的信号主要反映了S1态的超快振动弛豫过程,后一段慢增加的信号主要反映了激发态的溶剂化过程.