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ISSN 1000-6818CN 11-1892/O6CODEN WHXUEU
物理化学学报 >> 2017,Vol.33>> Issue(8)>> 1510-1511     doi: 10.3866/PKU.WHXB201705171         English Abstract
强界面相互作用h-BN/Re(0001)体系上不可修复的畴区拼接缺陷及其电子态
吴凯
北京大学化学与分子工程学院, 北京 100871
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收稿日期 修回日期 网出版日期 2017-05-17
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引用文本: 吴凯. 强界面相互作用h-BN/Re(0001)体系上不可修复的畴区拼接缺陷及其电子态[J]. 物理化学学报, 2017,33(8): 1510-1511.
WU Kai. Irreparable Defects Produced by the Patching of h-BN Frontiers on Strongly Interacting Re(0001) and Their Electronic Properties[J]. Acta Phys. -Chim. Sin., 2017, 33(8): 1510-1511.    doi: 10.3866/PKU.WHXB201705171

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