[1]. Ulman, A. Chem. Rev., 1996, 96: 1533
[2]. Palermo, V.; Palma, M.; Samorì, P. Adv. Mater., 2006, 18: 145
[3]. Kuchhal, Y. K.; Katti, S. S.; Bisways, A. B. J. Colloid Interface Sci., 1933, 1: 48
[4]. Evans, S. D.; Ulman, A. Chem. Phys. Lett., 1990, 170: 462
[5]. Lü, J.; Delamarche, E.; Eng, L.; Bennewitz, R.; Meyer, E.; Güntherodt, H. J. Langmuir, 1999, 15: 8184
[6]. Ichii, T.; Fukum, T.; Kobayashi, K.; Yamada, H.; Kmatsushige, K. Nanotechnology, 2004, 15: S30
[7]. Taylor, D. M. Adv. Colloid Interface Sci., 2000, 87: 183
[8]. Taylor, D. M.; Bayes, G. F. Phys. Rev. E, 1994, 49: 1439
[9]. Helmholtz, H. Abhandlungen zur thermodynamik chemister vorgänge. Leipzig: Herausgegeben von Dr. MaxPlank, 1902: 51
[10]. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; et al. Gaussian 03. Revision B.01. Pittsburgh, PA: Gaussian Inc., 2003
[11]. (a) Saito, N.; Hayashi, K.; Sugimura, H.; Takai, O.; Nakagiri, N. Surf. Interface Anal., 2002, 34: 601 (b) Sugimura, H.; Hayashi, K.; Saito, N.; Nakagiri, N.; Takai, O. Appl. Surf. Sci., 2002, 188: 403 (c) Saito, N.; Hayashi, K.; Sugimura, H.; Takai, O.; Nakagiri, N. Chem. Phys. Lett., 2001, 349: 172
[12]. Ofir, Y.; Zenou, N.; Goykhman, I.; Yitzchaik, S. J. Phys. Chem. B, 2006, 110: 8002
[13]. Zhang, R. Q.; Bu, Y. X.; Li, S. T.; Huang, J. H.; Han, K. L.; He, G. Z. Sci. China Ser. B-Chem., 2000, 30(5):419. [张瑞勤, 步宇翔, 李述汤, 黄建华, 韩克利, 何国钟. 中国科学B辑: 化学, 2000, 30 (5): 419]
[14]. Foresman, J. B.; Frisch, A. Exploring chemistry with electronic structure method. 2nd ed. Pittsburgh: Gaussian Inc., 1996: 141-160
[15]. Ulman, A.; Eilers, J. E.; Tillman, N. Langmuir, 1989, 5: 1147
[16]. Yamada, K.; Saiki, A.; Sakaue, H.; Shingubara, S.; Takahagi, T. Jpn. J. Appl. Phys., 2001, 40: 4829
[17]. Takahagi, T.; Saiki, A.; Sakaue, H.; Shingubara, S. Jpn. J. Appl. Phys., 2003, 42: 157
[18]. (a) Acros Organics. Reference handbook of fine chemicals. 2006/ 2007. Geel: Acros Organics, 2006: 833-1402 (b) Aldrich Chemical Company. Handbook of fine chemicals. 2007/2008. St. Louis: Sigma-Aldrich Corporation, 2007: 812-2491
[19]. Porter, M. D.; Bright, T. B.; Allara, D. L.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc., 1987, 109: 3559
[20]. Ramírez, P.; Andreu, R.; Cuesta, Á.; Calzado, C. J.; Calvente, J. J. Anal. Chem., 2007, 79: 6473
[21]. Smalley, J. F.; Feldberg, S. W.; Chidsey, C. E. D.; Linford, M. R.; Newton, D. M.; Liu, Y. P. J. Phys. Chem., 1995, 99: 13141
[22]. Aswal, D. K.; Lenfant, S.; Guerin, D.; Yakhmi, J. V.; Vuillaume, D. Anal. Chim. Acta, 2006, 568: 84
[23]. Limura, K.; Nakajima, Y.; Kato, T. Thin Solid Films, 2000, 379: 230
[24]. Brzoska, J. B.; Shahidzadeh, N.; Rondelez, F. Nature, 1992, 360: 719
[25]. Nakamura, T.; Aoki, K.; Chen, J. Electrochem. Commun., 2002, 4: 521
[26]. Bush, B. G.; DelRio, F. W.; Opatkiewicz, J.; Maboudian, R.; Carraro, C. J. Phys. Chem. A, 2007, 111: 12339