(1) Zachariasen, W. H.
J. Am. Chem. Soc. 1932, 54, 3841. doi:
10.1021/ja01349a006
(2) Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Zhang, Y.; Dubonos, S. V.; Grigorieva, I. V.; Firsov, A. A.
Science 2004, 306, 666. doi:
10.1126/science.1102896
(3) Mermin, N. D.
Phys. Rev. 1968, 176, 250. doi:
10.1103/PhysRev.176.250
(4) Li, X. S.; Cai W. W.; An, J. H.; Kim, S. Y.; Nah, J. H.; Yang, D. X.; Piner, R.; Velamakanni, A.; Jung, I.; Tutuc, E.; Banerjee, S. K.; Colombo, L.; Ruoff, R. S.
Science 2009, 324, 1312. doi:
10.1126/science.1171245
(5) Hernandez, Y.; Nicolosi, V.; Lotya, M.; Blighe, F. M.; Sun, Z. Y.; De, S.; Mcgovern, I. T.; Holland, B.; Byrne, M.; Gunko, Y. K.; Boland, J. J.; Niraj, P.; Duesberg, G.; Krishnamurthy, S.; Goodhue, R.; Hutchison, J.; Scardaci, V.; Ferrari, A. C.; Coleman, J. N.
Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 563.
(6) Banhart, F.; Kotakoski, J.; Krasheninnikov, A. V.
ACS Nano 2011, 5, 26. doi:
10.1021/nn102598m
(7) Hashimoto, A.; Suenaga, K.; Gloter, A.; Urita, K.; Iijima, S.
Nature 2004, 430, 870. doi:
10.1038/nature02817
(8) Girit, C. O.; Meyer, J. C.; Erni, R.; Rossell, M. D.; Kisielowski, C.; Yang, L.; Park, C. H.; Crommie, M. F.; Cohen, M. L.; Louie, S. G.; Zettl, A.
Science 2009, 323, 1705. doi:
10.1126/science.1166999
(9) Huang, P. Y.; Ruiz-Vargas, C. S.; van der Zande, A. M.; Whitney, W. S.; Levendorf, M. P.; Kevek, J. W.; Garg, S.; Alden, J. S.; Hustedt, C. J.; Zhu, Y.; Park, J.; McEuen, P. L.; Muller, D. A.
Nature 2011, 469, 389. doi:
10.1038/nature09718
(10) Lahiri, J.; Lin, Y.; Bozkurt, P.; Oleynik, I. I.; Batzill, M.
Nat. Nanotechnol. 2010, 5, 326. doi:
10.1038/nnano.2010.53
(11) Ying, H.; Wang, Z. Y.; Guo, Z. D.; Shi, Z. J.; Yang, S. F.
Acta Phys. -Chim. Sin. 2011, 27, 1482. [应红, 王志永, 郭政铎, 施祖进, 杨上峰. 物理化学学报,
2011, 27, 1482.] doi:
10.3866/PKU.WHXB20110630
(12) Gomez-Navarro, C.; Meyer, J. C.; Sundaram, R. S.; Chuvilin, A.; Kurasch, S.; Burghard, M.; Kern, K.; Kaiser, U.
Nano Lett. 2010, 10, 1144.
10.1021/nl9031617
(13) Chuvilin, A.; Kaiser, U.; Bichoutskaia, E.; Besley, N. A.; Khlobystov, A. N.
Nat. Chem. 2010, 2, 450. doi:
10.1038/nchem.644
(14) Ran, K.; Zuo, J. M.; Chen. Q.; Shi, Z. J.
ACS Nano 2011, 4, 3367.
(15) Kotakoski, J.; Krasheninnikov, A. V.; Kaiser, U.; Meyer, J. C.
Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 105505. doi:
10.1103/PhysRevLett.106.105505
(16) Warner, J. H.; Rummeli, M. H.; Ge, L.; Gemming, T.; Montanari, B.; Harrison, N. M.; Buchner, B.; Briggs, G. A. D.
Nat. Nanotechnol. 2009, 4, 500. doi:
10.1038/nnano.2009.194
(17) Novoselov, K. S.; Jiang, D.; Schedin, F.; Booth, T. J.; Khotkevich, V. V.; Morozov, S. V.; Geim, A. K.
Proc. Natl. Acad. Sci. U. S. A. 2005, 102, 10451. doi:
10.1073/pnas.0502848102
(18) Meyer, J. C.; Kisielowski, C.; Erni, R.; Rossell, M. D.; Crommie, M. F.; Zettl, A.
Nano Lett. 2008, 8, 3582. doi:
10.1021/nl801386m
(19) Egerton, R. F.; Li, P.; Malac, M.
Micron 2004, 35, 399. doi:
10.1016/j.micron.2004.02.003
(20) Krasheninnikov, A. V.; Banhart, F.
Nat. Mater. 2007, 6, 723. doi:
10.1038/nmat1996
(21) Zuo, J. M.; Gao, M.; Tao, J.; Li, B. Q.; Twesten, R.; Petrov, I.
Microsc. Res. Techniq. 2004, 64, 347. doi:
10.1002/jemt.20096
(22) Wen, J. G.; Mabon, J.; Lei, C. H.; Burdin, S.; Sammann, E.; Petrov, I.; Shah, A. B.; Chobpattana, V.; Zhang, J.; Ran, K.; Zuo, J. M.; Mishina, S.; Aoki, T.
Microsc. Microanal. 2010, 16, 183. doi:
10.1017/S1431927610000085
(23) Cockayne, D. J. H.
Annu. Rev. Mater. Sci. 2007, 37, 159. doi:
10.1146/annurev.matsci.35.082803.103337
(24) Egami, T.; Billinge, J. L.
Underneath the Bragg peaks: Structural Analysis of Complex Materials; Pergamon: Amsterdam, 2003; pp 55-99.
(25) Petkov, V.; Jeong, I. K.; Chung, J. S.; Thorpe, M. F.; Kycia, S.; Billinge, S. J. L.
Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 4089. doi:
10.1103/PhysRevLett.83.4089
(26) Petkov, V.; Difrancesco, R. G.; Billinge, S. J. L.; Acharya, M.; Foley, H. C.
Philos. Mag. B 1999, 79, 1519.
(27) Billinge, S. J. L.; DiFrancesco, R. G.; Kwei, G. H.; Neumeier, J. J.; Thompson, J. D.
Phys. Rev. Lett. 1996, 77, 715. doi:
10.1103/PhysRevLett.77.715
(28) Jeong, I. K.; Proffen, T.; Mohiuddin-Jacobs, F.; Billinge, S. J. L.
J. Phys. Chem. A 1999, 103, 921. doi:
10.1021/jp9836978
(29) Ruan, C. Y.; Murooka, Y.; Raman, R. K.; Murdick, R. A.; Worhatch, R. J.; Pell, A.
Microsc. Microanal. 2009, 15, 323. doi:
10.1017/S1431927609090709
(30) Chen, H.; Zuo, J. M.
Acta Materialia 2007, 5, 1617.
(31) Mckenzie, D. R.; Green, D. C.; Swift, P. D.
Thin Solid Films 1990, 193, 418. doi: 10.1016/S0040-6090(05)80052-5
(32) Li, L.; Reich, S.; Robertson, J.
Phys. Rev. B 2005, 72, 184109. doi:
10.1103/PhysRevB.72.184109 
