(1) Du, A.; Zhou, B.; Zhang, Z. H.; Shen, J. Materials 2013, 6, 941. doi: 10.3390/ma6030941
(2) Wang, J. Materials Review 1993, 2, 36. [王珏. 材料导报, 1993, 2, 36.]
(3) Du, A.; Zhou, B.; Xu,W.W.; Yu, Q. J.; Shen, Y.; Zhang, Z, H.; Shen, J.;Wu, G, M. Langmuir 2013, 29, 11208. doi: 10.1021/la401579z
(4) Zhou, B.; Shen, J.;Wu, G. M.; Sun, Q.; Ma, Y. D.;Wang, J. Energy Sci. Technol. 2004, 38, 125. [周斌, 沈军, 吴广明, 孙骐, 马耀东, 王珏. 原子能科学技术, 2004, 38, 125.]
(5) Gash, A. E.; Satcher. J. H.; Simpson, R. L. J. Non-Cryst. Solids 2004, 350, 145. doi: 10.1016/j.jnoncrysol.2004.06.030
(6) Gash, A. E.; Tillotson, T. M.; Satcher, J. H.; Poco, J. F., Jr.; Hrubesh, L.W.; Simpson, R. L. Chem. Mater. 2001, 13 (3), 999. doi: 10.1021/cm0007611
(7) Hao, Z. X.; Liu, H.; Guo, B.; Li, H.; Zhang, J.W.; Gan, L. H. Acta Phys. -Chim. Sin. 2007, 23, 289. [郝志显, 刘辉, 郭彬, 李红, 张家伟, 甘礼华. 物理化学学报, 2007, 23, 289.] doi: 10.1016/S1872-1508(07)60021-7
(8) Ren, H. B.; Zhang, L.;Wan, X. B. Energy Sci. Technol. 2007, 41, 288. [任洪波, 张林, 万小波. 原子能科学技术, 2007, 41, 288.]
(9) Du, A.; Zhou, B.; Shen, J. J. Non-Cryst. Solids 2009, 355, 175. doi: 10.1016/j.jnoncrysol.2008.11.015
(10) Du, A.; Zhou, B.; Shen, J.; Gui, J. Y.; Zhong, Y. H.; Liu, C. Z.; Zhang, Z. H.;Wu, G. M. New J. Chem. 2011, 35, 109.
(11) Chen, K.; Bao, Z. H.; Liu, D.; Zhu, X. R.; Zhang, Z. H.; Zhou, B. Acta Phys. -Chim. Sin. 2011, 27 (11), 2719. [陈珂, 包志豪, 刘东, 朱秀榕, 张志华, 周斌. 物理化学学报, 2011, 27 (11), 2719.] doi: 10.3866/PKU.WHXB20111110
(12) Chen, K.; Bao, Z. H.; Zhu, X. R.; Du, A.; Shen, J.;Wu, G. M.; Zhang, Z. H.; Zhou, B. Energy Sci. Technol. 2012, 46 (7), 855. [陈珂, 包志豪, 朱秀榕, 杜艾, 沈军, 吴广明, 张志华, 周斌. 原子能科学技术, 2012, 46 (7), 855.]
(13) Marauo, D.; Zhang, K.;Wang, S. R.; Louisa, J.; Hope,W. J. Mater. Chem 2012, 22, 20163. doi: 10.1039/c2jm34744j
(14) Hou, K.; Puzzo, D.; Helander, M. G.; Lo, S. S.; Bonifacio, L. D.;Wang,W. D.; Lu, Z. H.; Scholes, G. D.; Ozin, G. A. Adv. Mater. 2009, 21 (24), 2942.
(15) Muller, V.; Rasp, M.; Stefanic, G.; Ba, J. H.; Gunther, S.; Rathousky, J.; Niederberger, M. Chem, Mater. 2009, 21 (21), 5229. doi: 10.1021/cm902189r
(16) Simmons, C. R.; Schmitt, D.;Wei, X. X.; Han, D. R.; Volosin, A. M.; Ladd. D. M.; Seo, D. K.; Liu, Y.; Yan, H. ACS Nano 2011, 5 (7), 6060. doi: 10.1021/nn2019286
(17) Volosin, A. M.; Sharma, S.; Traverse, C.; Newman, N.; Seo, D. K. J. Mater. Chem. 2011, 21, 13232. doi: 10.1039/c1jm12362a
(18) Pan, Y.; Zheng, G. Q.; Zheng, L. S.;Wu, Z. A.; Zhi, B.; Luo, F.; Hu,W. Nonferrous Metals Engineering 2005, 57 (3), 49. [潘勇, 郑国渠, 郑林树, 吴周安, 支波, 骆芳, 胡伟. 有色金属工程, 2005, 57 (3), 49. ]
(19) Gong, S.; Zhou, X. H.; Yin, G. Q.; Song, G. Q.; Li, C. J.; Yang, Z. R. CIESC Journal 2011, 62 (5), 1461. [龚圣, 周新华, 尹国强, 宋光泉, 李翠金, 杨卓如. 化工学报, 2011, 62 (5), 1461.]
(20) Wei, T. Y.; Lu, S. Y.; Chang, Y. C. J. Chin. Inst. Chem. Eng. 2007, 38 (5-6), 477. doi: 10.1016/j.jcice.2007.05.002
(21) Baumann, T. F.; Kucheyev, S. O.; Gash, A. E.; Stacher, J. H., Jr. Adv. Mater. 2005, 17, 1546.
(22) Li, X. P.;Wu, J. D.; Han, C. Y. Chemical World 2006, 4, 196. [李雄平, 吴介达, 韩传有. 化学世界, 2006, 4, 196.]
(23) Giraldi, T. R.; Escote, M. T.; Bernardi, M. I. B.; Bouquet, V.; Leite, E. R.; Longo, E.; Varela, J. A. J. Electroceram. 2004, 13, 159. doi: 10.1007/s10832-004-5093-z
(24) Kucheyev, S. O.; Baumann, T. F.; Sterne, P. A.;Wang, Y. M.; Buuren, T.; Hamza, A. V.; Terminello, J.;Willey, T. M. Phys. Rev. B 2005, 72 (3), 5404.
(25) Zeng, F. J.; Li, L.; Zhou, C. Electronic Compoents and Material 2008, 28 (12), 27. [曾凡菊, 李玲, 周超. 电子元件与材料, 2008, 28 (12), 27.]
(26) Lee, S. Y.; Park, B. O. Thin Solid Films 2006, 510, 154. doi: 10.1016/j.tsf.2006.01.001
(27) Guo, J. C.; She, C. H.; Lian, T. Q. J. Phys. Chem. C 2008, 112 (12), 4761. doi: 10.1021/jp077712x
(28) Tong, J. L.; Zheng, G. J.; Li, R. F.; Tao,W. Appl. Surf. Sci. 2008, 254 (20), 6547. doi: 10.1016/j.apsusc.2008.04.021
(29) Liu, S. M.; Ding,W. Y.; Chai,W. P. Physical B 2011, 406, 2303. doi: 10.1016/j.physb.2011.03.065
(30) Montilla, F.; Morallon, E.; De Battisti, A.; Barison, S.; Daolio, S.; Vazquez, J. L. J. Phys. Chem. B 2004, 108 (16), 15976.
(31) Sing, K. S.; Everett, D. H.; Haul, R. A. Pure Appl. Chem. 1985, 57, 603. doi: 10.1351/pac198557040603
(32) Norihiro, S.; Yuichiro, K.; Ya, D. C.; Kevin, C.W.; Shinsuke, T.; Keisuke, S.; Naoki, F.; Mikiya, M.; Kazuhiko, M.; Hirofumi, T.; Katsuhiko, A.; Yusuke, Y. CrystEngComm 2013, 15, 4404. doi: 10.1039/c3ce40189h |