物理化学学报 >> 1999, Vol. 15 >> Issue (07): 636-642.doi: 10.3866/PKU.WHXB19990711
何勇, 熊轶嘉, 朱起鹤, 孔繁敖
He Yong, Xiong Yi-Jia, Zhu Qi-He, Kong Fan-Ao
摘要:
用微扰密度矩阵和瞬态线性极化率理论,模拟了四特丁基酞菁(BuPc)和四苯基卟啉(TPP)分子的飞秒荧光亏蚀谱.初步定量地确定了它们的Huang-Rhys因子.振动弛豫和电子激发态溶剂化的速率常数.飞秒荧光亏蚀谱在零延时附近的尖峰.归结为S2→S1的内转换所造成的后果.通过对光谱的模拟,比较可靠地确定了内转换速率常数.