
物理化学学报 >> 2004, Vol. 20 >> Issue (02): 113-117.doi: 10.3866/PKU.WHXB20040201
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谷新;胡光辉;王周成;林昌健
Gu Xin;Hu Guang-Hui;Wang Zhou-Cheng;Lin Chang-Jian
摘要: 现场测量了铜基和陶瓷基化学镀铜过程混合电位-时间曲线(Emix-t),成功地检测到了化学镀诱发过程.考察了添加剂和络合剂的浓度以及pH值对Emix-t曲线的影响,结合阴、阳极极化曲线及双电层理论对各种影响因素进行了讨论.新生铜活化的铜基化学镀铜的诱发过程是一个缓慢激活过程,所对应的Emix-t曲线是一个稍微倾斜的台阶,这不同于钯活化的基体的诱发过程.通过对不同活化工艺的Emix-t曲线的比较,发现较高的活化温度能明显减少活化时间,而且还可加速诱发过程,从而提高化学沉积铜的速度.