
物理化学学报 >> 1989, Vol. 5 >> Issue (01): 76-80.doi: 10.3866/PKU.WHXB19890116
侯永庚;陈稚芳;傅亨
Hou Yong-Geng;Chen Zhi-Fang;Fu Heng
摘要: 本文提出了一种测定晶体结构位相的系统试差法。它是根据未知反射和已知反射间的相互关系, 按照概率上可测的条件, 把它们划分为可测系统, 并在Sayre公式的基础上建立可测系统的位相超解方程, 再以试差法求解, 从整体上求得未知反射的位相。该方法的特点是可以控制误差和单解。它不仅适用于一般中小分子结构的测定, 也可能为难解结构和大分子结构测定开辟一条新的途径。