
物理化学学报 >> 1990, Vol. 6 >> Issue (06): 681-685.doi: 10.3866/PKU.WHXB19900609
张瑞峰; 于亚莉; 陈玉璞; 糜天英
Zhang Rui-Feng; Yu Ya-Li; Chen Yu-Pu; Mi Tian-Ying
摘要: 本文首次用X-光电子能谱(XPS)技术研究了H_2C_2O_4溶液中钛基的腐蚀行为, 对Ti基片的表面和界面进行了XPS表征. 实验结果表明:Ti基在80 ℃, 10%的草酸溶液中腐蚀两小时, 样品的表面只有Ti~0和TiO存在; 经过四小时腐蚀的样品表面主要是TiO_2和少部分Ti~(2+). 这与X-衍射分析认为有TiH_(1.042)的结构看法相符。
同时, Ti0_2与表面涂层RuO_2都属金红石型结构, 因而完全有可能形成牢固的金属阳极材料。