(1) Kamtekar, K. T.; Monkman, A. P.; Bryce, M. R. Adv. Mater. 2010, 22, 572. doi: 10.1002/adma.200902148
(2) D'Andrade, B. W.; Forrest, S. R. Adv. Mater. 2004, 16, 1585.
(3) Ji, W. Y.; Zhang, L. T.; Gao, R. X.; Zhang, L. M.; Xie. W. F.; Zhang, H. Z.; Li, B. Opt. Express. 2008, 16, 15489. doi: 10.1364/OE.16.015489
(4) Yuan, Y. B.; Li, S.; Wang, Z.; Xu, H. T.; Zhou, X. Opt. Express. 2009, 17, 1577. doi: 10.1364/OE.17.001577
(5) Zhang, Z. Q.; Wang, Q.; Dai, Y. F.; Liu, Y. P.; Wang, L. X.; Ma, D. G. Org. Electron. 2009, 10, 491. doi: 10.1016/j.orgel.2009.02.006
(6) Qi, X. F.; Slootsky, M.; Forrest, S. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 193306. doi: 10.1063/1.3021014
(7) Ma, T.; Jiang, Y. D.; Yu, J. S.; Lou, S. L.; Li, L.; Zhang, Q. Acta Phys. -Chim. Sin. 2008, 24, 977. [马涛, 蒋亚东, 于军胜, 娄双玲, 李璐, 张清. 物理化学学报, 2008, 24, 977.] doi: 10.1016/S1872-1508(08)60043-1
(8) Su, S. J.; Gonmori, E.; Sasabe, H.; Kido, J. Adv. Mater. 2008, 20, 4189.
(9) Huang, H.; Fu, Q.; Zhuang, S. Q.; Liu, Y. K.; Wang, L.; Chen, J. S.; Ma, D.G.; Yang, C. L. J. Phys. Chem. C. 2011, 115, 4872.
(10) Wang, Z. Q.; Xu, C.; Wang, W. Z.; Duan, L.M.; Li, Z.; Zhao, B. T.; Ji, B. M. New J. Chem. 2012, 36, 662. doi: 10.1039/c2nj20809a
(11) Wang, Y.; Hua, Y. L.; Wu, X. M.; Zhang, L. J.; Hou, Q. C.; Guan, F.; Zhang, N.; Yin, S. G.; Cheng, X. M. Org. Electron. 2008, 9, 692. doi: 10.1016/j.orgel.2008.05.001
(12) Seo, J. H.; Lee, K. H.; Seo, B. M.; Koo, J. R.; Moo, S. J.; Park, J. K.; Yoon, S. S.; Kim, Y. K. Org. Electron. 2010, 11, 1605. doi: 10.1016/j.orgel.2010.07.012
(13) Gebeyehu, D.; Walzer, K.; He, G.; Pfeiffer, M.; Leo, K.; Brandt, J.; Gerhard, A.; Stöβel, P.; Vestweber, H. Synth. Met. 2005, 148, 205. Kido, J.; Matsumoto, T. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 2866. doi: 10.1016/j.synthmet.2004.09.024
(15) Oyamada, T.; Sasabe, H.; Adachi. C.; Murase, S.; Tominaga, T.; Maeda, C. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 033503. doi: 10.1063/1.1852707
(16) Wu, C. I.; Lin, C.T.; Chen, Y. H.; Chen, M. H.; Lu, Y. J.; Wu, C. C. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 152104. doi: 10.1063/1.2192982
(17) Leem, D. S.; Kim, S. Y.; Kim, J. J.; Chen, M. H.; Wu, C. I. Electrochem. Solid-State lett. 2009, 12, 8.
(18) Wang, F. X.; Xiong, T.; Qiao, X. F.; Ma, D. G. Org. Electron. 2009, 10, 266. doi: 10.1016/j.orgel.2008.11.018
(19) Yook, K. S.; Jeon, S. O.; Min, S. Y.; Lee, J. Y.; Yang, H. J.; Noh, T.; Kang, S. K.; Lee, T. W. Adv. Mater. 2010, 20, 1797.
(20) Ma, J. W.; Xu, W.; Jiang, X. Y.; Zhang, Z. L. Synth. Met. 2008, 158, 810. doi: 10.1016/j.synthmet.2008.05.009
(21) Pfeiffer, M.; Leo, K.; Zhou, X.; Huang, J. S.; Hofmann, M.; Werner, A.; Nimoth, J. B. Org. Electron. 2003, 4, 89. doi: 10.1016/j.orgel.2003.08.004
(22) Walzer, K.; Maennig, B.; Pfeiffer, M.; Leo, K. Chem. Rev. 2007, 107, 1233. doi: 10.1021/cr050156n
(23) Chen, S. Yi.; Chu, T. Y.; Chen, J. F.; Su, C. Y.; Chen, C. H. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 053518. doi: 10.1063/1.2335374
(24) Band, A.; Albu-Yaron, A.; Livneh, T.; Cohen, H.; Feldman, Y.; Shimon, L.; Popovitz-Biro, R.; Lyahovitskaya, V.; Tenne, R. J. Phys. Chem. B. 2004, 108, 12360. doi: 10.1021/jp036432o
(25) Ganzorig, C.; Fujihira, M. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 4774. doi: 10.1063/1.1819984 |