(1) Lumetta, G. I.; Nash, K. L.; Clark, S. B.; Friese, J. I. Ind. Eng. Chem. Res. 2006, 44, 2887.
(2) Salorinne, K.; Nissinen, M. J. Inclusion Phenom. Macro. 2008,61, 11. doi: 10.1007/s10847-008-9411-y
(3) Mathieu, A.; Asfari, Z.; Thuery, P.; Nierlich, M.; Faure, S.;Vicens, J. J. Inclusion Phenom. Macro. 2001, 40, 173. doi: 10.1023/A:1011803705182
(4) Kim, J. S.; Yu, I. Y.; Pang, J. H.; Kim, J. K.; Lee, Y. I.; Lee, K.W.; Oh,W. Z. Microchem. J. 1998, 58, 225. doi: 10.1006/mchj.1997.1545
(5) Arnaud-Neu, F.; Asfari, Z.; Souley, B.; Vicens, J. Anales De Quimica-International Edition 1997, 93, 404.
(6) Arnaud-Neu, F.; Asfari, Z.; Souley, B.; Vicens, J. New J. Chem.1996, 20, 453.
(7) Haverlock, T. J.; Bonnesen, P. V.; Sachleben, R. A.; Moyer, B.A. Radiochim. Acta 1997, 76, 103.
(8) Khrifi, S.; Guelzim, A.; Baert, F.; Asfari, Z.; Vicens, J.J. Inclusion Phenom. Mol. Recognit. Chem. 1997, 29, 187. doi: 10.1023/A:1007923507891
(9) Alfieri, C.; Dradi, E.; Pochini, A.; Ungaro, R.; Andreetti, G. D.Journal of the Chemical Society-Chemical Communications1983, 1075.
(10) Lamouroux, C.; Aychet, N.; Lelievre, A.; Jankowski, C. K.;Moulin, C. Rapid Commun. Mass Spectrom. 2004, 18, 1493.
(11) Jankowski, C. K.; Hocquelet, C.; Arseneau, S.; Moulin, C.;Mauclaire, L. J. Photochem. Photobiol. A 2006, 184, 216. doi: 10.1016/j.jphotochem.2006.04.018
(12) Jankowski, C. K.; Allain, F.; Dozol, J. F.; Virelizier, H.; Tabet, J.C.; Moulin, C.; Lamouroux, C. Rapid Commun. Mass Spectrom.2003, 17, 1247.
(13) Jankowski, C. K.; Dozol, J. F.; Allain, F.; Tabet, J. C.; Ungaro,R.; Casnati, A.; Vicens, J.; Asfari, A.; Boivin, J. Pol. J. Chem.2002, 76, 701.
(14) Kroupa, J.; Lhotak, P.; Cuba, V.; John, J.; Rudzevich, V.;Bohmer, V. Radiochim. Acta 2009, 97, 429. doi: 10.1524/ract.2009.1629
(15) Feng,W.; Yuan, L. H.; Zheng, S. Y.; Huang, G. L.; Qiao, J. L.;Zhou, Y. Radiat. Phys. Chem. 2000, 57, 425. doi: 10.1016/S0969-806X(99)00451-X
(16) Ao, Y. Y.; Peng, J.; Zhang, Y.W.; Yuan, L. Y.; Yu, C. H.; Li, J.Q.; Zhai, M. L. Chin. Sci. Bull. accepted.
(17) Zhu, X.W.;Wang, J. C.; Song, L. C. Atomic Energy Science and Technology 2004, 38, 301. [朱晓文, 王建晨, 宋崇立.原子能科学技术, 2004, 38, 301.]
(18) Casnati, A.; Pochini, A.; Ungaro, R.; Ugozzoli, F.; Arnaud, F.;Fanni, S.; Schwing, M. J.; Egberink, R. J. M.; Dejong, F.;Reinhoudt, D. N. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 2767. doi: 10.1021/ja00115a012
(19) Zhu, X.W.;Wang, J. C.; Tong, L. B.; Song, L. C. Atomic Energy Science and Technology 2003, 37, 428. [朱晓文, 王建晨, 童利斌, 宋崇立. 原子能科学技术, 2003, 37, 428.]
(20) Shi, J.; Barker, J. R. Journal of Geophysical Research 1992, 97,13039. doi: 10.1029/92JD00571
(21) Heller, C. A.; Gordon, A. S. J. Phys. Chem. 1960, 64, 390.doi: 10.1021/j100833a003
(22) Heller, C. A.; Gordon, A. S. J. Phys. Chem. 1956, 60, 1315.doi: 10.1021/j150543a038
(23) Ge, M.;Wang,W. F.; Zhao, H.W.; Zhang, Z. Y.; Yu, X. H.; Li,W. X. Chem. Phys. Lett. 2007, 444, 355. doi: 10.1016/j.cplett.2007.07.028
(24) Devlin, H. R.; Harris, I. J. Industrial & Engineering Chemistry Fundamentals 1984, 23, 387. doi: 10.1021/i100016a002 |