
物理化学学报 >> 1991, Vol. 7 >> Issue (03): 305-310.doi: 10.3866/PKU.WHXB19910309
赵良仲; 郭忠诚; 梁振华; 胡玉秀; 刘汉范
Zhao Liang-Zhong; Guo Zhong-Cheng; Liang Zhen-Hua; Hu Yu-Xiu; Liu Han-Fan
摘要: 用角分布XPS法研究了MOD法制得的YBCO膜在热处理过程中膜的表面元素浓度变化以及膜与村底ZrO_2之间的原子扩散和固态化学反应。结果表明无论是薄膜(约0.1 μm)和较厚的膜(约1~1.5 μm), 在大约530~720 ℃的温度范围内加热后都发生铜表面富集和钡表面浓度偏低。在800 ℃以上加热后铜的表面浓度显著降低, 温度愈高, 降低愈甚。膜与衬底之间的化学反应也随温度升高而加剧。例如薄膜在890 ℃加热后钡向ZrO_2衬底扩散, 膜中的铜仍以+2价为主; 在950 ℃加热后衬底表面生成了富钡层, 而铜则主要以+1价的形式存在于富钡层表面。与厚膜相比, 在800 ℃以上薄膜与衬底的原子扩散和固态化学反应对于膜超导电性的损害更显著。