(1) Dang, Z. M.; Yu, Y. F.; Xu, H. P.; Bai, J. Compos. Sci. Technol.2008, 68 (1), 171. doi: 10.1016/j.compscitech.2007.05.021
(2) Tsangaris, G.; Psarras, G.; Kontopoulos, A. J. Non-Cryst. Solids1991, 131, 1164. doi: 10.1016/0022-3093(91)90747-T
(3) Lee, J.; Jin, F.; Park, S.; Park, J. Sur. Coat. Tech. 2004, 180, 650.doi: 10.1016/j.surfcoat.2003.10.111
(4) Reid, J. D.; Lawrence,W. H.; Buck, R. P. J. Appl. Polym. Sci.1986, 31 (6),1771. doi: 10.1002/app.1986.070310622
(5) Nelson, J. K.; Fothergill, J. C. Nanotechnology 2004, 15, 586.doi: 10.1088/0957-4484/15/5/032
(6) Feng, J. Q.; Xu, M.; Zheng, X. Q. P. CSEE 2004, 24 (6), 92.[冯军强, 徐曼, 郑晓泉. 中国电机工程学报, 2004, 24 (6),92.]
(7) Lewis, T. J. IEEE T. Dielect. El. In. 2004, 11 (5), 739.doi: 10.1109/TDEI.2004.1349779
(8) Foster, M. D. Crit. Rev. Anal. Chem. 1993, 24 (3), 179.doi: 10.1080/10408349308050553
(9) Atanasoska, L.; Anderson, S. G.; Meyer, H. M.; Lin, Z. D.;Weaver, J. H. J. Vac. Sci. Technol. A 1987, 5, 3325. doi: 10.1116/1.574191
(10) Wong, M.; Paramsothy, M.; Xu, X. J.; Ren, Y.; Li, S.; Liao, K.Polymer 2003, 44, 7757. doi: 10.1016/j.polymer.2003.10.011
(11) Wagnera, H. D.; Richard, A. V. Mater. Today 2004, 7 (11), 38.doi: 10.1016/S1369-7021(04)00507-3
(12) Yoonessi, M.; Toghiani, H.; Daulton, T. L.; Lin, J. S.; Pittman,C. U. Macromol. 2005, 38, 818.
(13) Rusli, R.; Eichhorn, S. J. Appl. Phys. Lett. 2008, 93 (3), 033111.
(14) Tang, L. C.; Zhang, H.; Zhang, Z. Compos. Sci. Technol. 2011,72, 7. doi: 10.1016/j.compscitech.2011.07.016
(15) Zaman, I.; Phan, T. T.; Kuan, H. C.; Meng, Q. S.; La, L. T. B.;Luong, L.; Youssf, O.; Ma, J. Polymer 2011, 52 (7), 1603.doi: 10.1016/j.polymer.2011.02.003
(16) Gong, Y.; Yang, G. S. J. Mater. Sci. 2009, 44 (17), 4639.doi: 10.1007/s10853-009-3708-0
(17) Crider, P. S.; Israeloff, N. E. Nano. Lett. 2006, 6 (5), 887.doi: 10.1021/nl060558q
(18) Riedel, C.; Sweeney, R.; Israeloff, N. Appl. Phys. Lett. 2010, 96,213110. doi: 10.1063/1.3431288
(19) Jespersen, T. S.; Nygard, J. Appl. Phys. Lett. 2007, 90 (18),183108. doi: 10.1063/1.2734920
(20) Riedel, C.; Arinero, R.; Tordjeman, P.; Lévêque, G.; Schwartz,G. A.; Alegria, A. Phys. Rev. E 2010, 81, 010801. doi: 10.1103/PhysRevE.81.010801
(21) Casuso, I.; Fumagalli, L.; Padrós, E.; Gomila, G. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 063111. doi: 10.1063/1.2767979
(22) Cherniavskaya, O.; Chen, L.W.;Weng, V.; Yuditsky, L.; Brus,L. E. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 1525.
(23) Crider, P. S.; Majewski, M. R.; Zhang, J.; Oukris, H.; Israeloff,N. E. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 013102. doi: 10.1063/1.2753539
(24) Forrest, J. A.; Dalnoki, V. K.; Dutcher, J. R. Phys. Rev. E 1997,56 (5), 5705. doi: 10.1103/PhysRevE.56.5705
(25) Krauss, T. D.; Brus, L. E. Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 4840.doi: 10.1103/PhysRevLett.83.4840
(26) Zhao, H. X.; Robert, K. Y. Compos. Part A 2008, 39, 602.doi: 10.1016/j.compositesa.2007.07.006 |