(1) Lakshmikumar, S. T.; Rastogi, A. C. Thin Solid Films 1995,259, 150. doi: 10.1016/0040-6090(94)06433-4
(2) Yakimovich, V. N. J. Cryst. Growth 1999, 198, 975. doi: 10.1016/S0022-0248(98)01060-4
(3) Philipose, U.; Yang, S.; Xu, T.; Ruda, H. E. Appl. Phys. Lett.2007, 90, 063103. doi: 10.1063/1.2457190
(4) Colli, A.; Hofmann, S.; Ferrari, A. C.; Martelli, F.; Rubini, S.;Ducati, C.; Franciosi, A.; Robertson, J. Nanotechnology 2005,16, S139. doi: 10.1088/0957-4484/16/5/001
(5) Zhu, Y.; Zhang, S. H.; Zhang, X. Y.; Hao, A. M.; Zhang, S. L.;Yang, F.; Yang, J. K.; Liu, R. P. Comp. Mater. Sci. 2011, 50,2745. doi: 10.1016/j.commatsci.2011.03.037
(6) Desgardin, P.; Oila, J.; Saarinen, K.; Hautojarvi, P.; Tournie, E.;Faurie, J. P.; Corbel, C. Phys. Rev. B 2000, 62, 15711. doi: 10.1103/PhysRevB.62.15711
(7) Gundel, S.; Faschinger,W. Phys. Rev. B 2002, 65, 035208. doi: 10.1103/PhysRevB.65.035208
(8) Sanaka, K.; Pawlis, A.; Ladd, T. D.; Lischka, K.; Yamamoto, Y.Phys. Rev. Lett. 2009, 103, 053601. doi: 10.1103/PhysRevLett.103.053601
(9) Jana, S.; Srivastava, B. B.; Acharya, S.; Santra, P. K. Chem. Commun. 2010, 46, 2853. doi: 10.1039/b925980e
(10) Watkins, G. D. Phys. Rev. Lett. 1974, 33, 223. doi: 10.1103/PhysRevLett.33.223
(11) Segall, M. D. J. Phys.: Condens. Matter 2002, 14, 2597.
(12) Zhang, Z. Y.; Yang, D. L.; Liu, Y. H.; Cao, H. B.; Shao, J. X.;Jing, Q. Acta Phys. -Chim. Sin. 2009, 25, 1731. [张子英, 杨德林, 刘云虎, 曹海滨, 邵建新, 井群. 物理化学学报, 2009, 25,1731.] doi: 10.3866/PKU.WHXB20090819
(13) Feng, J.; Xiao, B.; Chen, J. C.; Zhou, C, T.; Du, Y. P.; Zhou, R.Solid State Commun. 2009, 149, 1569. doi: 10.1016/j.ssc.2009.05.042
(14) He, K. H.; Yu, F.; Ji, G. F.; Yan, Q. L.; Zheng, S. K. Chin. J. High Pressure Phys. 2006, 20 (1), 57. [何开华, 余飞, 姬广富, 颜其礼, 郑澍奎. 高压物理学报, 2006, 20 (1), 57.]
(15) Li, J. H.; Zeng, X. H.; Ji, Z. H.; Hu, Y. P.; Chen, B.; Fan, Y. P.Acta Phys. Sin. 2011, 60, 057101. [李建华, 曾祥华, 季正华,胡益培, 陈宝, 范玉佩. 物理学报, 2011, 60, 057101.]
(16) Liu, C. Y.;Wang, T.; Zha, G. Q.; Gu, Z.; Jie,W. Q. J. Mater. Sci. Technol. 2012, 28, 373. doi: 10.1016/S1005-0302(12)60070-X
(17) Fan, S.W.; Yao, K. L.; Liu, Z. L. Appl. Phys. Lett. 2009, 94,152506. doi: 10.1063/1.3120277
(18) Shakir, M.; Kushwaha, S. K.; Maurya, K. K.;Bhagavannarayana, G.;Wahab, M. A. Solid State Commun.2009, 149, 2047. doi: 10.1016/j.ssc.2009.08.021
(19) Han, D.;West, D.; Li, X. B.; Xie, S. Y.; Sun, H. B.; Zhang, S. B.Phys. Rev. B 2010, 82, 155132. doi: 10.1103/PhysRevB.82.155132
(20) Reuter, K.; Stampfl, C.; Scheffler, M. In Handbook of Materials Modeling, Part A Methods; Springer: Berlin, 2005; pp 149-234.
(21) Dean, J. A. Lange ' s Handbook of Chemistry, 14th ed.;McGraw-Hill: New York, 1992; p 686.
(22) Gao, H. X.; Xia, J. B. J. Appl. Phys. 2012, 111, 093902. doi: 10.1063/1.4707888
(23) Kwak, K.W.; Vanderbilt, D.; Kingsmith, R. D. Phys. Rev. B1995, 52, 11912. doi: 10.1103/PhysRevB.52.11912
(24) Prete, P.; Lovergine, N.; Petroni, S.; Mele, G.; Mancini, A. M.;Vasapollo, G. Mater. Chem. Phys. 2000, 66, 253. doi: 10.1016/S0254-0584(00)00317-5
(25) Laref, A.; Sekkal,W.; Laref, S.; Luo, S. J. J. Appl. Phys. 2008,104, 033103. doi: 10.1063/1.2961311
(26) Muscat, J.; Harrison, N. M. Phys. Rev. B 1999, 59, 15457. doi: 10.1103/PhysRevB.59.15457
(27) Wei, S. H.; Zunger, A. Phys. Rev. B 1988, 37, 8958. doi: 10.1103/PhysRevB.37.8958
(28) Yan, H. Y.; Li, Y. Q.; Guo, Y. R.; Song, Q. G.; Chen, Y. F.Physica B 2011, 406, 545. doi: 10.1016/j.physb.2010.11.035
(29) Mulliken, R. S. J. Chem. Phys. 1955, 23, 1833. doi: 10.1063/1.1740588
(30) Segall, M. D.; Shah, R.; Pickard, C. J.; Payne, M. C. Phys. Rev. B 1996, 54, 16317. doi: 10.1103/PhysRevB.54.16317 |