(1) Chen, Z. L.; Shuai, M. B.; Wang, L. D. J. Solid State Electrochem. 2013, 17, 2661. doi: 10.1007/s10008-013-2141-0
(2) Zhong, J. R.; Xiao, S.; Chu, M. F.; Xiao, J. Q.; Zou, L. X. China Measurement & Test 2009, 35 (2), 112. [仲敬荣, 肖洒, 褚明福, 肖吉群, 邹乐西. 中国测试, 2009, 35 (2), 112.]
(3) Lü, X. C.; Wang, X. L.; Xian, X. B. Material Review 2003, 17 (2), 23. [吕学超, 汪小琳, 鲜晓斌. 材料导报, 2003, 17 (2), 23.]
(4) Chang, F.; Levy, M.; Jacikman, B. Surf. Coat. Technol. 1989, 39-40, 721.
(5) Kattanis, T. Z.; Chang, F.; Levy, M. Surf. Coat. Technol. 1990, 43-44, 390.
(6) Zhang, Y. S.; Xie, Z. Q.; Wang, Q. F.; Yin, X. F.; Qin, Z. J. Material Review 2005, 19 (8), 43. [张友寿, 谢志强, 王庆富, 殷雪峰, 秦祖军. 材料导报, 2005, 19 (8), 43.]
(7) Wang, X. Y.; Liu, T.W.; Gou, Y. N.; Wang, Q. G. Surface Technology 2002, 3 (1), 12. [王小英, 刘天伟, 沟引宁, 王勤国. 表面技术, 2002, 3 (1), 12.]
(8) Mattox, D. M.; Bland, R. D. J. Nucl. Mater 1967, 21, 349. doi: 10.1016/0022-3115(67)90189-4
(9) Egert, C. M.; Scott, D. G. J. Vac. Sci. Technol. A 1987, 5, 2724. doi: 10.1116/1.574728
(10) Arkush, R.; Mintz, M. H.; Shamir, N. J. Nucl. Mater. 2000, 281, 182. doi: 10.1016/S0022-3115(00)00335-4
(11) Crusset, D.; Bernard, F.; Sciora, E.; Gérard, N. J. Alloy. Compd. 1994, 204, 71. doi: 10.1016/0925-8388(94)90073-6
(12) Meng, Q. N.; Wen, M.; Qu, C. Q.; Hu, C. Q.; Zheng, W. T. Surf. Coat. Technol. 2011, 205, 2865. doi: 10.1016/j.surfcoat.2010.10.060
(13) Medjani, F.; Sanjinés, R.; Allidi, G.; Karimi, A. Thin Solid Films 2006, 515, 260. doi: 10.1016/j.tsf.2005.12.145
(14) Song, Z. X.; Xu, K.W.; Chen, H. Thin Solid Films 2004, 468, 203. doi: 10.1016/j.tsf.2004.04.037
(15) Gerbig, Y. B.; Spassov, V.; Savan, A.; Chetwynd, D. G. Thin Solid Films 2007, 515, 2903. doi: 10.1016/j.tsf.2006.08.031
(16) Schell, N.; Andreasen, K. P.; Bottiger, J.; Chevallierb, J. Thin Solid Films 2005, 476, 280. doi: 10.1016/j.tsf.2004.09.033
(17) Reddy, A. S.; Rao, G. V.; Uthanna, S.; Reddy, P. S. Physica B 2005, 370, 29. doi: 10.1016/j.physb.2005.08.041
(18) Li, S. Q.; Liu, L.; Tian, H. F.; Hu, J. B. Acta Phys. -Chim. Sin. 2011, 27, 2671. [李硕琦, 刘璐, 田辉凤, 胡劲波. 物理化学学报, 2011, 27, 2671.] doi: 10.3866/PKU.WHXB20111135
(19) Zhai, X. H.; Zhao, J. Y.; Chao, H.; Cao, Y. A. Acta Phys. -Chim. Sin. 2010, 26, 1617. [翟晓辉, 赵俊岩, 巢晖, 曹亚安. 物理化学学报, 2010, 26, 1617.] doi: 10.3866/PKU.WHXB20100635
(20) Wu, Z. D.; Li, S. M.; Lin, W. L.; Ding, X. J. Acta Phys. -Chim. Sin. 1992, 8 (3), 401. [吴仲达, 李松梅, 林文廉, 丁晓纪. 物理化学学报, 1992, 8 (3), 401.] doi: 10.3866/PKU.WHXB19920322
(21) Leborgne, C. B.; Thomann, A. L.; Hermann, J. Proc. SPIE 1994, 2207, 513. doi: 10.1117/12.184757
(22) Yue, T. M.; Yu, J. K.; Man, H. C. Surf. Coat. Technol. 2001, 137, 65. doi: 10.1016/S0257-8972(00)01104-X
(23) Zhang, Y. B.; Meng, D. Q.; Xu, Q. Y.; Zhang, Y. S. J. Nucl. Mater. 2010, 397, 31. doi: 10.1016/j.jnucmat.2009.12.002
(24) Schaaf, P. Proc. SPIE 2003, 5147, 405.
(25) Bereznai, M.; Pelsoczi, I.; Toth, Z.; Turzo, K.; Radnai, M.; Bor, Z.; Fazekas, A. Biomaterials 2003, 24, 4197. doi: 10.1016/S0142-9612(03)00318-1
(26) Shao, T. M.; Hua, M.; Tam, H. Y.; Cheung, E. H. M. Surf. Coat. Technol. 2005, 197, 77. doi: 10.1016/j.surfcoat.2005.01.010 |